Новые поступления (книга в стадии обработки) Уайтхауз, Дэвид. Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы [Текст] : научное издание / Д. Уайтхауз ; пер. с англ. А. Я. Григорьева, Д. В. Ткачука ; под ред. Н. К. Мышкина. - Долгопрудный : Интеллект, 2009. - 471, [1] с. : рис. - Библиогр.: с. 469-471 (55 назв.). - ISBN 978-5-91559-023-5 (в пер.). - ISBN 1 9039 9660 0 (англ.) : 891.00 р.
Рубрики: метрология.стандартизация--метрология Кл.слова (ненормированные): метрология -- метрология поверхностей -- метрологическое обеспечение -- средства измерений -- измерения -- надежность измерений Аннотация: Учебно-справочное руководство известного специалиста отражает как совершенствовавшиеся много десятилетий методы обработки и контроля качества поверхностей в машиностроении и оптическом приборостроении, так и достижения последних лет (включая новые способы описания характеристик и использование сканирующих микроскопов). Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Григорьев, А. Я. Ткачук, Д. В. Мышкин, Н. К. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Лич, Ричард К.. Инженерные основы измерений нанометровой точности [Текст] : учеб. пособие / Р. К. Лич ; пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Издательский дом "Интеллект", 2012. - 400 с. : ил. - Библиогр.: с. 390-393 (55 назв.). - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.) : 1246.30 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника метрология.стандартизация--метрология Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- инженерная метрология -- нанометрология -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- метрология поверхностей -- сканирующая зондовая микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- координатная метрология -- измерения массы -- измерения силы Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Доп. точки доступа: Заблоцкий, А. В. |