Новые поступления (книга в стадии обработки) Рыков, Сергей Александрович. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур [Текст] : учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению "Техническая физика" / С. А. Рыков ; . - Санкт-Петербург : Наука, 2001. - 52 с. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр. - ISBN 5-02-024956-4 (в пер.) : 20.00 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы--полупроводниковая электроника Кл.слова (ненормированные): сканирующая туннельная микроскопия -- атомарно-силовые микроскопы -- полупроводниковые материалы -- наноструктуры Аннотация: На примере сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) и атомарно- силового микроскопа (АСМ) рассмотрены основные принципы сканирующей зондовой микроскопии.Изложены физические основы их действия,описаны современные конструкции СТМ и АСМ.Рассматриваются примеры их практического применения для исследования и диагностики полупроводниковых материалов и наноструктур.Для студентов, аспирантов,научных сотрудников. Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Плескова, Светлана Николаевна. Атомно-силовая микроскопия в биологических и медицинских исследованиях [Текст] : учебное пособие / С. Н. Плескова. - Долгопрудный : Издательский дом "Интеллект", 2011. - 183, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 173-183. - ISBN 978-5-91559-108-9 : 512.50 р.
Рубрики: биология--биология Кл.слова (ненормированные): атомарно-силовые микроскопы -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- биология -- медицина Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского |