Новые поступления (книга в стадии обработки)
    Маловик, Константин Николаевич.
    Научные основы повышения качества оценивания и прогнозирования долгосрочной эксплуатации объектов ядерной энергетики [Текст] : научное издание / К. Н. Маловик, И. И. Марончук ; Севастоп. гос. ун-т. - Севастополь : Каламо, 2015. - 347, [1] с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 325-347 (303 назв.). - ISBN 978-5-9907449-0-5 : 568.00 р.
УДК

Рубрики: энергетика--атомная энергетика

Кл.слова (ненормированные):
ядерная энергетика -- объекты ядерной энергетики -- качество -- оценивание -- ресурсоспособность -- прогнозирование -- долгосрочная эксплуатация
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского


Доп. точки доступа:
Марончук, Игорь Игоревич

Новые поступления (книга в стадии обработки)
    Вальковская, М. И.
    Пластичность и хрупкость полупроводниковых материалов при испытаниях на микротвердость [Текст] / М.И.Вальковская,Б.М.Пушкаш,Э.Е.Марончук. - Кишинев : Штиинца, 1984. - 108 с. : ил. ; 21см. - 1.20 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Электротехника--Полупроводниковые материалы

Кл.слова (ненормированные):
электротехника -- полупроводниковые материалы -- пластичность -- хрупкость -- микротвердость -- кремний -- германий -- кристаллические структуры -- деформирование кристаллов -- анизотропия -- склерометрическая микротвердость
Аннотация: В монографии обобщен материал по изучению пластичности и хрупкости ряда полупроводниковых кристаллов при действии сосредоточенной нагрузки.Приведены новые результаты исследования и объяснения наблюдаемой анизотропии микротвердости.Показано,что метод микротвердости может быть использован для выявления включений в эпитаксиальных структурах,полученных на основе арсенида галлия. Рассмотрены некоторые вопросы по влиянию легирования и термообработки на микротвердость и распределение дислокаций в исследуемых полупроводниковых сигналлов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Пушкаш, Б. М.
Марончук, Э. Е.