Новые поступления (книга в стадии обработки) Груздов, Вадим Владимирович. Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике [Текст] : учебное пособие / В. В. Груздов, Ю. В. Колковский, Ю. А. Концевой. - Москва : Техносфера, 2016. - 327, [1] с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-426-1 (в пер.) : 1170.40 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника Кл.слова (ненормированные): твердотельная электроника -- СВЧ-электроника -- интеллектуальная собственность -- стандарты -- СВЧ-транзисторы -- полупроводниковые приборы -- технологические процессы (ТП) -- широкозонные материалы -- контроль качества -- гетероструктуры -- электронная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- электронная спектроскопия -- рентгеновская дифрактометрия Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Доп. точки доступа: Колковский, Юрий Владимирович Концевой, Юлий Абрамович |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Васильев, Андрей Георгиевич. СВЧ транзисторы на широкозонных полупроводниках [Текст] : учебное пособие / А. Г. Васильев, Ю. В. Колковский, Ю. А. Концевой. - Москва : Техносфера, 2011. - 253, [3] с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-290-8 (в пер.) : 569.80 р. Рекомендовано Учеб.-метод. об-нием вузов РФ по образованию в обл. радиотехники, электроники, биомедицинской техники и автоматизации в качестве учеб. пособия для студентов вузов, обучающихся по направлению подгот. 210100 "Электроника и наноэлектроника"
Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника Кл.слова (ненормированные): СВЧ-транзисторы -- СВЧ-приборы -- широкозонные материалы -- широкозонные полупроводники -- гетероструктуры -- технологические процессы (ТП) -- надежность -- эпитаксия -- гетероэпитаксия Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Доп. точки доступа: Колковский, Юрий Владимирович Концевой, Юлий Абрамович |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Ковтонюк, Н. Ф. Измерения параметров полупроводниковых материалов [Текст] : научное издание / Н. Ф. Ковтонюк, Ю. А. Концевой. - М. : Изд-во "Металлургия", 1970. - 429 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр.: с. 412-426. - 1.28 р.
Рубрики: электротехника -- электротехнические материалы Кл.слова (ненормированные): ПОЛУПРОВОДНИКИ -- ФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА -- МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ -- ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ -- МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ -- УДЕЛЬНОЕ СОПРОТИВЛЕНИЕ -- КОНЦЕНТРАЦИЯ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДОВ -- ПОДВИЖНОСТЬ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДОВ -- ПОВЕРХНОСТНЫЕ СВОЙСТВА Аннотация: В книге приведены методы исследования основных физических свойств полупроводников и методы контроля качества полупроводниковых материалов. Рассмотрены физические основы методов измерений, а также вопросы их экспериментального осуществления. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Концевой, Ю. А. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Концевой, Ю. А. Методы контроля технологии производства полупроводниковых приборов [Текст] : научное издание / Ю. А. Концевой, В. Д. Кудин. - М. : Энергия, 1973. - 144 с. : ил. ; 20 см. - (Б-ка радиотехнолога ; вып. 2). - Библиогр.: с. 132-140 (134 назв.). - 0.40 р.
Рубрики: Электроника--Полупроводниковая электроника Кл.слова (ненормированные): ДИЭЛЕКТРИКИ -- ПОЛУПРОВОДНИКИ -- МИКРОСКОПИЯ -- МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ ПРИБОРОВ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ОПЕРАЦИИ Аннотация: В книге описываются электрические, оптические, рентгеновские и электронномикроскопические методы контроля технологии изготовления полупроводниковых приборов. Рассматриваются принципы организации технологического контроля при разработках и в производстве приборов. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Кудин, В. Д. |