Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>R=47.13.11$<.>)

Общее количество найденных документов : 19
Показаны документы с 1 по 19

Технология полупроводниковых приборов и изделий микроэлектроники [Текст] : в 10 кн. : учебник / Ю. И. Горбунов, И. Я. Козырь. - М. : Высшая школа, 1989 - .
Кн. 3 : Полупроводниковые приборы и интегральные микросхемы. - 1989. - 143 с. : ил. ; 20см. - ISBN 5-06-000305-1 : 0.20 р.

ГРНТИ	47.13.11.01.33	47.33.01.33
УДК	621.382.002+621.382.049.77.002(075.32)

ББК 31.233

Рубрики: Электроника--Полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
полупроводники -- полупроводниковая электроника -- полупроводниковая схемотехника -- полупроводниковые диоды -- полупроводниковые запоминающие устройства -- полупроводниковые изделия -- полупроводниковые интегральные схемы -- биполярные транзисторы -- униполярные транзисторы -- оптоэлектронные интегральные микросхемы -- оптоэлектронные материалы -- оптоэлектронные приборы
Аннотация: В книге приведены основы физики полупроводников и принципы действия важнейших полупроводниковых приборов, используемых в качестве дискретных компонентов и элементов интегральных микросхем. Рассмотрены особенности и классификация интегральных микросхем. Описаны базовые элементы цифровых микросхем и принципы построения аналоговых микросхем.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Горбунов, Ю. И.
Козырь, И.Я.
Найти похожие

Технология полупроводниковых приборов и изделий микроэлектроники [Текст] : в 10 кн. : учебник / В. Е. Минайчев. - М. : Высшая школа, 1989 - .
Кн. 6 : Нанесение пленок в вакууме. - 1989. - 110 с. : ил. ; 20см. - ISBN 5060003086 : 0.15 р.

ГРНТИ	47.13.11.01.33
УДК	621.382.002+621.382.002:621.793(075.32)

ББК 31.233

Рубрики: Электроника--Полупроводниковая электроника

Обработка материалов--Нанесение покрытий

Кл.слова (ненормированные):
полупроводники -- полупроводниковая схемотехника -- полупроводниковая электроника -- полупроводниковые генераторы -- полупроводниковые диоды -- полупроводниковые запоминающие устройства -- полупроводниковые изделия -- полупроводниковые интегральные схемы -- полупроводниковые конденсаторы -- полупроводниковые лазеры -- полупроводниковые материалы -- полупроводниковые приборы -- полупроводниковые соединения -- полупроводниковые стабилитроны
Аннотация: В книге рассмотрены особенности применения и методы нанесения тонких пленок при производстве полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Описаны принципы действия современных технологических вакуумных установок с термическими испарительными и ионными распылительными системами. Приведены сведения по их эксплуатации, вакуумной технике, электронно-вакуумной гигиене и технике безопасности.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Минайчев, В. Е.
Найти похожие

Васерин, Н. Н.
Применение полупроводниковых индикаторов [Текст] / Н. Н. Васерин, Н. К. Дадерко, Г. А. Прокофьев; под ред Е. С. Липина. - М. : Энергоатомиздат, 1991. - 200 с. : ил. ; 20см. - ISBN 5-283-01524-6 : 2.00, 200.00, 12.00 р.

ГРНТИ	47.13.11
УДК	3:621.382

ББК 32.852

Рубрики: Электроника--Полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
электроника -- индикаторы -- единичные индикаторы -- шкальные индикаторы -- цифровые индикаторы -- графические индикаторы
Аннотация: Приведены конструкции, параметры и характеристики полупроводниковых знакосинтезирующих индикаторов, а также практические схемы устройств с применением единичных,цифровых, буквенно-цифровых и матричных индикаторов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Дадерко, Н. Л.
Прокофьев, Г. А.
Найти похожие

Быстров, Ю. А.
Технологический контроль размеров в микроэлектронном производстве [Текст] / Ю.А.Быстров,Е.А.Колгин,Б.Н.Котлецов. - М. : Радио и связь, 1988. - 168 с. : ил. ; 22см. - ISBN 5-256-00006-3 : 0.65 р.

ГРНТИ	47.13.11
УДК	621.382.049.77.002:652

ББК 32.844

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
электроника -- фотоэлектрические методы -- телевизионные методы -- рентгенотелевизионные методы -- дифракционные методы -- контроль фаски
Аннотация: Рассматриваются различные методы и средства измерения линейных размеров,толщин и глубин топологических элементов интегральных микросхем с позиций их применимости для неразрушающего и оперативного контроля в процессе производства.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Колгин, Е. А.
Котлецов, Б. Н.
Найти похожие

Коршунов, Ф. П.
Воздействие радиации на интегральные микросхемы [Текст] / Ф. П. Коршунов, Ю. В. Богатырев, В. А. Вавилов. - Минск : Наука и техника, 1986. - 254 с. : ил. ; 22см. - 2.80 р.

ГРНТИ	47.13.11
УДК	621.382.049.77:539.1

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
проникающая радиация -- радиационные дефекты -- биполярные транзисторы -- униполярные транзисторы -- МДП-транзисторы
Аннотация: Рассматриваются радиационные нарушения в интегральных микросхемах на основе биполярных и униполярных транзисторов, при этом учитываются как радиационные изменения свойств полупроводниковых материалов, так и процессы в отдельных элементах микросхем.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Богатырев, Ю. В.
Вавилов, В. А.
Найти похожие

Комраков, Б. М.
Измерение параметров оптических покрытий [Текст] / Б. М. Комраков. - М. : Машиностроение, 1986. - 136 с. : ил. ; 20см. - (Б-ка приборостроителя). - 0.40 р.

ГРНТИ	47.13.11
УДК	621.382.049.77:537.533.3

ББК 34.9

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника--Оптоэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
тонкослойные покрытия -- интерферометрия -- рефрактометрия -- поляриметрические измерения -- спектральная теория сигналов -- спектральная аппаратура -- лучевая прочность
Аннотация: Изложен комплекс вопросов по измерению толщины,показателя преломления,дисперсии и других параметров оптических покрытий,используемых в оптоэлектронике.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

Высоцкий, Б. Ф.
Инженер-конструктор-технолог микроэлектронной и микропроцессорной техники [Текст] / Б. Ф. Высоцкий. - М. : Радио и связь, 1988. - 96 с. : ил. ; 21см. - ISBN 5-256-00058-6 : 0.30 р.

ГРНТИ	47.13.11
УДК	621.382.049.77.001.66

ББК 32.844

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
электроника -- микроэлектроника -- микроэлектронная аппаратура -- микропроцессорная техника -- радиотехника -- радиоэлектроника
Аннотация: Рассмотрены отдельные аспекты творчества инженера:формирование и некоторые методы поиска идей,этапы творчества,характер и роль изобретательства,методы инженерного анализа.Вскрываются проблемы выбора профессии.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

Власов, В. Е.
Системы технологического обеспечения качества компонентов микроэлектронной аппаратуры [Текст] / В. Е. Власов, В. П. Захаров, А. И. Коробов ; под ред. А. И. Коробова. - М. : Радио и связь, 1987. - 160 с. : ил. ; 22см. - 0.55 р.

ГРНТИ	47.13.11
УДК	621.382.049:658.62

ББК 32.844

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронная аппаратура -- интегральные микросхемы -- электронная промышленность -- электроника твердого тела -- изготовление БИС
Аннотация: Рассматриваются основные направления обеспечения качества компонентов микроэлектронной аппаратуры на этапах их разработки и изготовления.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Захаров, В. П.
Коробов, А. И.
Коробов, А. И.
Найти похожие

Сретенский, В. Н.
Метрологическое обеспечение производства приборов микроэлектроники [Текст] / В. Н. Сретенский. - М. : Радио и связь, 1988. - 144 с. : ил. ; 21см. - ISBN 5-256-00166-3 : 0.55 р.

ГРНТИ	47.13.11
УДК	621.382.002:531.7

ББК 32.842

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
электроника -- микроэлектроника -- метрологическое обеспечение -- метрология -- измерительные преобразователи
Аннотация: Рассматриваются основные понятия в области метрологии и их уточнения,исходя из потребностей развития метрологического обеспечения микроэлектроники.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

10.

Полтавцев, Ю. Г.
Технология обработки поверхностей в микроэлектронике [Текст] / Ю. Г. Полтавцев. - Киев : Тэхника, 1990. - 206 с. : ил. ; 20см. - ISBN 5335005726 : 0.70 р.

ГРНТИ	47.13.11
УДК	621.382.049.77.002

ББК 32.844.1

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника -- химическая обработка поверхности -- удаление загрязнений -- плазмохимическая обработка поверхности -- лазерная очистка поверхности
Аннотация: Освещена прогрессивная технология очистки поверхностей кремниевых пластин в производстве интегральных схем:химическая обработка поверхности на скрубберах,в кислотных и основных растворах,в растворах с использованием поверхностно-активных веществ,удаление загрязнений в низкотемпературной плазме,очистка с использованием лазерного излучения.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

11.

Оборудование ионной имплантации [Текст] / Л. А. Корнилов [и др.]. - М. : Радио и связь, 1988. - 184 с. : ил. ; 22 см. - ISBN 5-256-00007-1 : 0.70 р.

ГРНТИ	47.13.11
УДК	621.382.049.77.002:621.7/9.048+621.793.18

ББК 32.84

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
ионные двигатели -- ионная имплантация -- системы сканирования -- вакуумная откачка -- послеимплантационные методы измерения
Аннотация: Систематизированы сведения о свойствах, параметрах и устройствах современного оборудования ионной имплантации. Изложены принципы автоматизации оборудования.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Корнилов, Л. А.
Шашелев, А. В.
Шокин, Е. В.
Симонов, В. В.
Найти похожие

12.

Румак, Н. В.
Диэлектрические пленки в твердотельной микроэлектронике [Текст] / Н. В. Румак ; под ред. В. Е. Борисенко. - Минск : Навука i тэхнiка, 1990. - 191 с. : ил. ; 20см. - ISBN 5-343-00540-3 : 1.40 р.

ГРНТИ	47.13.11
УДК	621.382.049.774.002.3

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
диэлектрические пленки -- кинетические модели -- структурные модели -- окисление кремниевых пластин -- диэлектрики
Аннотация: Описываются термические,плазменные,пиролитические,фотохимические и другие способы формирования слоев диоксида и нитрида кремния,стекол с легирующими добавками.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Борисенко, В. Е.
Найти похожие

13.

Румак, Н. В.
Компоненты МОП-интегральных микросхем [Текст] / Н. В. Румак ; под ред. А. П. Достанко. - Минск : Навука i тэхнiка, 1991. - 311 с. : ил. ; 20см. - ISBN 5343008240 : 2.30 р.

ГРНТИ	47.13.11
УДК	621.382.049.774

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
кремниевые пластины -- затворы -- контакты -- межсоединения -- изоляция межслойная -- изоляция межкомпонентная
Аннотация: Изложены данные о влиянии условий получения на структуру и свойства основных компонентов МОП-интегральных микросхем: кремниевых подложек, подзатворных диэлектриков, пленок затвора, межслойной и межкомпонентной изоляции, контактов и межсоединений.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Достанко, А. П.
Найти похожие

14.

Полевые транзисторы на арсениде галлия [Текст] : принципы работы и технология изготовления / под ред.: Д. В. Ди Лоренцо, Д. Д. Канделуола. - М. : Радио и связь, 1988. - 496 с. : ил. ; 21см. - ISBN 5-256-00136-1 : 2.70 р.

ГРНТИ	47.13.11
УДК	621.382.323

ББК 32.852.3

Рубрики: Электроника--Полевые транзисторы

Кл.слова (ненормированные):
арсенид галлия -- полевые транзисторы -- цифровые интегральные микросхемы -- проектирование ИМС -- быстродействующие СБИС
Аннотация: Книга охватывает широкий круг вопросов, отражающих современное состояние проектирования и технологии изготовления полевых транзисторов на арсениде галлия, а также интегральных схем на их основе.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Ди Лоренцо, Д. В.
Канделуола, Д. Д.
Найти похожие

15.

Чистые помещения [Текст] / Под.ред.И.Хаякавы;Пер.с японск.В.Ю.Акифьева,Л.Н.Дмитрука,М.Е.Панюкова. - М. : Мир, 1990. - 456 с. : ил. ; 21см. - ISBN 5030003630 : 4.20 р.

ГРНТИ	47.13.11
УДК	621.382.002

ББК 30.61

Рубрики: Электроника--Полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
изделия электронной техники -- изделия микроэлектроники -- квантовая электроника -- волоконная оптика -- фильтры для очистки воздуха -- чистые помещения
Аннотация: Посвящена вопросу создания особо чистых помещений для изготовления прецизионных электронных компонентов и высококачественных материалов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова)

Доп. точки доступа:
Хаякава, И.
Найти похожие

16.

Булкин, А. Д.
Технология и оборудование производства силовых полупроводниковых приборов [Текст] : учеб. пособие для вузов / А. Д. Булкин, Н. И. Якивчик. - М. : Энергоатомиздат, 1984. - 256 с. : ил. ; 20см. - 0.65 р.

ГРНТИ	47.13.11.01.33
УДК	621.382.002(075)

ББК 32.852

Рубрики: Электроника--Полупроводниковые приборы

Кл.слова (ненормированные):
силовые полупроводниковые приборы -- химическая обработка -- механическая обработка полупроводников -- термическая обработка -- фотолитографическая обработка -- полупроводниковые материалы -- герметизация -- техника безопасности -- фотолитография
Аннотация: Изложена технология производства силовых полупроводниковых приборов. Описаны технологические операции и оборудование процессов механической, химической, термической, фотолитографической обработки полупроводниковых материалов, сборки узлов и герметизации приборов. Рассмотрены требования техники безопасности, полупроводниковой гигиены и межоперационный контроль. Для студентов вузов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Якивчик, Н. И.
Найти похожие

17.

Курносов, А. И.
Методика обучения рабочих полупроводникового производства [Текст] / А. И. Курносов. - 2-е изд., перераб. и доп. - М. : Высшая школа, 1978. - 224 с. : ил. ; 22 см. - 0.45 р.

ГРНТИ	47.13.11
УДК	621.382.002

Рубрики: Электроника--Полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ -- СКРАЙБИРОВАНИЕ ПЛАСТИН -- ТРАВЛЕНИЕ -- ФОТОЛИТОГРАФИЯ
Аннотация: Содержит методические указания по обучению рабочих на производстве.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

18.

Дорфман, В. Ф.
Микрометаллургия в микроэлектронике. Принципы технологии в полупроводниковом приборостроении [Текст] : научное издание / В. Ф. Дорфман. - М. : Металлургия, 1978. - 272 с. ; 22 см. - 3.30 р.

ГРНТИ	47.13.11
УДК	621.382.002

Рубрики: Электроника--Полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
МИКРОМЕТАЛЛУРГИЯ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- ЭЛЕКТРОДИФФУЗИЯ
Аннотация: Изложены физико-химические основы технологии полупроводниковых приборов и интегральных схем.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

19.

Сироткин, В. С.
Управление технологическими процессами производства полупроводниковых приборов [Текст] : научное издание / В. С. Сироткин, Ф. П. Пресс. - М. : Энергия, 1979. - 208 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр.: с. 202-207. - 0.60 р.

ГРНТИ	47.13.11
УДК	621.382.002

Рубрики: Электроника--Полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
ПОЛУПРОВОДНИКИ -- УПРАВЛЕНИЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИМИ ПРОЦЕССАМИ -- ПРОЦЕССЫ ДИФФУЗИИ -- ФОТОЛИТОГРАФИЯ
Аннотация: Излагаются принципы системного моделирования технологических процессов и полупроводниковых структур, создаваемых с помощью этих процессов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Пресс, Ф. П.
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)