| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Орешкин, П. Т.$<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.

   
    Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем [Текст] : материалы IV Всесоюзного научно-технического семинара / Рязанский радиотехн. ин-т ; отв. ред. П. Т. Орешкин. - Рязань : РРТИ, 1988. - 160 с. : ил. ; 21см. - 0.85 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
электроника -- микроэлектроника -- диоды шотки -- барьерные структуры -- барьерные слои -- магниточувствительность -- фотоприемники
Аннотация: В сборнике рассмотрены пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Орешкин, П. Т.
Найти похожие

2.

    Орешкин, П. Т.
    Физика полупроводников и диэлектриков [Текст] : учеб. пособие для вузов / П. Т. Орешкин. - М. : Высшая школа, 1977. - 448 с. : ил. ; 20см. - 1.04 р.
ГРНТИ
УДК
ББК 531.9

Рубрики: Физика--Полупроводники

   Физика--Диэлектрики


Кл.слова (ненормированные):
полупроводники -- диэлектрики -- физика полупроводников -- микрочастицы -- электропроводность -- теория Бора -- фотопроводимость
Аннотация: В книге изложены: элементы зонной теории твердых тел; статистика электронов и дырок в полупроводниках; кинетические явления в полупроводниках; неравновесные носители заряда в полупроводниках и диэлектриках; явления в сильных электрических полях; поляризация в постоянном и переменном электрическом поле; диэлектрические потери; диэлектрическая дисперсия и др.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

3.

   
    Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем [Текст] : материалы III Всесоюз. научно-техн. семинара, Рязань 14-16 июня 1984 г. / Рязанский радиотехн. ин-т ; отв. ред. П. Т. Орешкин. - Рязань : РРТИ, 1985. - 175 с. : ил. ; 19 см. - Библиогр. в конце ст. - 0.80 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
РЕЛАКСАЦИЯ ЗАРЯДА -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- НИЗКОЧАСТОТНЫЙ ШУМ -- НАДЕЖНОСТЬ ДИОДОВ -- ГЛУБОКИЕ ЦЕНТРЫ -- АНОДНОЕ ОКИСЛЕНИЕ -- ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА
Аннотация: В сборнике рассмотрены пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем, явление резонансной релаксации заряда в физических барьерных слоях, установки резонансной спектроскопии глубоких центров, диоды Шоттки, фотоэлектрические свойства биполярного транзистора и др. вопросы.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Орешкин, П. Т.
Найти похожие

4.

    Физика полупроводников и микроэлектроника [Текст] : межвуз. сб. науч. трудов / Рязанский радиотехн. ин-т. - Рязань : РРТИ, 1978.
   Вып. 5 / отв. ред. П. Т. Орешкин. - 1978. - 136 с. : ил., табл. ; 20 см. - Библиогр. в конце ст. - 0.66 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Физика--Полупроводники

   Электроника--Микроэлектроника


Кл.слова (ненормированные):
РЕЛАКСАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ -- КАТОДНЫЕ ПЛЕНКИ -- МАГНИТНЫЕ СВОЙСТВА -- БАРЬЕРНЫЕ СЛОИ -- ЭЛЕКТРЕТНЫЙ ЭФФЕКТ
Аннотация: В сборнике опубликованы статьи, обобщающие результаты научно-исследовательских работ, выполненных на кафедрах полупроводников и диэлектриков и микроэлектроники ряда вузов в области физики полупроводников, диэлектриков, микроэлектроники и полупроводниковых приборов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Орешкин, П. Т.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)