| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :1
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>A=Лич, Ричард К.$<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

    Лич, Ричард К..
    Инженерные основы измерений нанометровой точности [Текст] : учеб. пособие / Р. К. Лич ; пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Издательский дом "Интеллект", 2012. - 400 с. : ил. - Библиогр.: с. 390-393 (55 назв.). - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.) : 1246.30 р.
УДК

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

   метрология.стандартизация--метрология


Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- инженерная метрология -- нанометрология -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- метрология поверхностей -- сканирующая зондовая микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- координатная метрология -- измерения массы -- измерения силы
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского


Доп. точки доступа:
Заблоцкий, А. В.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)