Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

В текущей базе данных найдено документов :2

В других БД по вашему запросу найдено:

ЭБС "IPRBOOKS" (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Концевой, Ю. А.$<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Ковтонюк, Н. Ф.
Измерения параметров полупроводниковых материалов [Текст] : научное издание / Н. Ф. Ковтонюк, Ю. А. Концевой. - М. : Изд-во "Металлургия", 1970. - 429 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр.: с. 412-426. - 1.28 р.

ГРНТИ	45.09
УДК	621.315

Рубрики: электротехника -- электротехнические материалы

Кл.слова (ненормированные):
ПОЛУПРОВОДНИКИ -- ФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА -- МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ -- ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ -- МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ -- УДЕЛЬНОЕ СОПРОТИВЛЕНИЕ -- КОНЦЕНТРАЦИЯ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДОВ -- ПОДВИЖНОСТЬ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДОВ -- ПОВЕРХНОСТНЫЕ СВОЙСТВА
Аннотация: В книге приведены методы исследования основных физических свойств полупроводников и методы контроля качества полупроводниковых материалов. Рассмотрены физические основы методов измерений, а также вопросы их экспериментального осуществления.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Концевой, Ю. А.
Найти похожие

Концевой, Ю. А.
Методы контроля технологии производства полупроводниковых приборов [Текст] : научное издание / Ю. А. Концевой, В. Д. Кудин. - М. : Энергия, 1973. - 144 с. : ил. ; 20 см. - (Б-ка радиотехнолога ; вып. 2). - Библиогр.: с. 132-140 (134 назв.). - 0.40 р.

ГРНТИ	47.33
УДК	621.382.002

Рубрики: Электроника--Полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
ДИЭЛЕКТРИКИ -- ПОЛУПРОВОДНИКИ -- МИКРОСКОПИЯ -- МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ ПРИБОРОВ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ОПЕРАЦИИ
Аннотация: В книге описываются электрические, оптические, рентгеновские и электронномикроскопические методы контроля технологии изготовления полупроводниковых приборов. Рассматриваются принципы организации технологического контроля при разработках и в производстве приборов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Кудин, В. Д.
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)