Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Аброян, И. А.$<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Аброян, И. А.
Физические основы электронной и ионной технологии [Текст] : учеб. пособие / И. А. Аброян, А. Н. Андронов, А. И. Титов. - М. : Высшая школа, 1984. - 320 с. : ил. ; 20см. - 0.90 р.

ГРНТИ	29.35.01.33	31.15.33.01.33
УДК	621.38:621.359(075.8)

ББК 32.85

Рубрики: Электроника--Основы электроники

Электротехника--Техническая электрохимия

Кл.слова (ненормированные):
ионы -- электроны -- электронная технология -- ионная технология -- микросхемы -- интегральные микросхемы
Аннотация: Изложены физические основы взаимодействия ионов и электронов с веществом; рассмотрены возможности применения этих процессов в технологии изготовления приборов, интегральных микросхем на основе полупроводниковых и пленочных материалов и др. Для студентов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Андронов, А. Н.
Титов, А. И.
Найти похожие

Петров, Н. Н.
Диагностика поверхности с помощью ионных пучков [Текст] / Н. Н. Петров, И. А. Аброян ; М-во высш. и сред. спец. образования РСФСР (Москва). - Л. : Изд-во Ленингр. ун-та, 1977. - 160 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 151-159 (178 назв.). - 1.66 р.

ГРНТИ	81.09
УДК	620.179

Рубрики: испытания материалов

Кл.слова (ненормированные):
ИОННАЯ ЭМИССИЯ -- КАТОДНЫЕ РАСПЫЛЕНИЯ -- РАССЕЯНИЕ ИОНОВ -- КАНАЛИРОВАНИЕ ИОНОВ -- ЗАРЯЖЕННЫЕ ЧАСТИЦЫ -- ЯДЕРНЫЕ РЕАКЦИИ -- ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ -- ВОЗБУЖДЕННЫЕ АТОМЫ -- ИОННО-ЭЛЕКТРОННАЯ ЭМИССИЯ -- ВТОРИЧНАЯ ЭМИССИЯ -- МОНОКРИСТАЛЛЫ -- РЕЗЕРФОРДОВСКОЕ РАССЕЯНИЕ ИОНОВ
Аннотация: В монографии рассматриваются методы, применяемые для получения информации о поверхностном слое твердого тела и основанные на вторичных явлениях, которые сопровождают ионную бомбардировку.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Аброян, И. А.
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)