| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=537.53<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

    Суворов, А. Л.
    Микроскопия в науке и технике [Текст] / А. Л. Суворов. - М. : Наука, 1981. - 136 с. : ил. ; 20см. - (Наука и технический прогресс). - 0.45 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Физика--Электронные явления

Кл.слова (ненормированные):
физика -- микроскопы -- световая микроскопия -- электронная микроскопия -- микроскопический анализ -- рентгеновская микроскопия -- автоэлектронная микроскопия -- автоионная микроскопия
Аннотация: Книга знакомит с основными вехами в развитии микроскопии,типами и принципами действия современных микроскопов.Рассмотрены тенденции развития микроскопии,ее перспективы.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

2.

    Блохин, М. А.
    Физика рентгеновских лучей [Текст] : научное издание / М. А. Блохин. - 2-е изд., перераб. - М. : Гос. изд-во технико-теорет. лит., 1957. - 518 с. : ил., табл. ; 23 см. - Библиогр.: с. 501-510. - 17.50 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Физика--Электронные явления

Кл.слова (ненормированные):
ЗАКОН МОЗЛИ -- ТЕОРИЯ СПИН-ДУБЛЕТЫ -- КВАНТОВАЯ ТЕОРИЯ -- ФОТОЭФФЕКТ -- СПЕКТРЫ ПОГЛОЩЕНИЯ
Аннотация: В книге изложены общие основы физики рентгеновских лучей, необходимые изучения специальных вопросов применения рентгеновских лучей в науке и технике6 рентгеновского анализа, рентгеноспектрального анализа, технического просвечивания и др.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

3.

   
    Практическая растровая электронная микроскопия [Текст] / под ред. Д. Гоулдстейна, Х. Яковица; пер. с англ. под ред. В. И. Петрова = Practical scanning electron microscopy / J. I. Goldstein, H. Yakouitz : научное издание. - М. : Изд-во "Мир", 1978. - 656 с. : ил., табл. ; 22 см. - Библиогр. в конце глав. - 4.70 р.
Тит. л. парал. на англ. яз.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Физика--Электронные явления

Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННЫЕ ПУЧКИ -- ЭЛЕКТРОННАЯ ОПТИКА -- ДЕТЕКТОР ЭВЕРХАРТА-ТОРНЛИ -- РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ -- РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОАНАЛИЗ
Аннотация: В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более специальных вопросов - рентгеновский микроанализ легких элементов и тонких пленок, использование мини-ЭВМ, сопряженных с микроанализатором, исследование биологических объектов и ионно-ионный микроанализ.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Гоулдстейн, Д. Goldstein J. I.
Яковиц, Х. Yakouitz H.
Петров, В. И.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)