| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>U=621.382.049.77.019.3(075.32)<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

    Готра, З. Ю.
    Контроль качества и надежность микросхем [Текст] : учеб. для сред. спец. учеб. заведений / З.Ю. Готра, И.М. Николаев. - М. : Радио и связь, 1989. - 169 с. : ил. ; 20см. - ISBN 5-256-00257-0 : 0.35 р.
ГРНТИ
УДК
ББК 30.14

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
стандартизация -- электронная промышленность -- интегральные микросхемы -- оптические методы -- надежность -- контроль качества
Аннотация: Рассматриваются главные направления теории надежности.Приводятся основные показатели качества и надежности,анализируются виды, причины и механизмы отказов интегральных микросхем.Рассматриваются вопросы создания автоматизированных систем управления качеством.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)