| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=537.311.33(07)<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

    Дехтяр, Ю. Д.
    Экзоэлектронная спектроскопия точечных дефектов полупроводников. Конспект лекций [Текст] : курс лекций / Ю. Д. Дехтяр ; Риж. техн. ун-т. - Рига : РТУ, 1993. - 59 с. ; 20 см. - Библиогр.: с. 48-59 (101 назв.) . - 28.00 р.
ГРНТИ
29.19.31.01.33
УДК
537.311.33(07)

Рубрики: Физика--Полупроводники

Кл.слова (ненормированные):
ЭКЗОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- ТОЧЕЧНЫЕ ДЕФЕКТЫ -- ДИАГНОСТИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ -- ЭФФЕКТ СТЕБЛЕРА-ВРОНСКОГО -- СПЕКТРОСКОПИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВ -- ЭКЗОЭМИССИОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- ЭКЗОЭМИССИЯ КРЕМНИЯ
Аннотация: Рассмотрено новое направление диагностики поверхностных слоев полупроводников, основанное на регистрации фотостимулированной экзоэлектронной эмиссии (ФТСЭ). Проанализированы механизмы этого явления для материалов с энергетической целью. Описаны эффект оптического гашения ФТСЭ: экзоэмиссионное проявление в axSi:H эффекта Стеблера-Вронского (фотоиндуцированные структурные превращения). Проиллюстрированы возможности экзоэмиссионной спектроскопии точечных дефектов полупроводников.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.



Найти похожие
2.

    Милицын, К. Н.
    Учебное пособие по курсу "Технология металлов и других конструкционных материалов". Основы получения полупроводниковых материалов - германия и кремния. Получение материалов высокой чистоты с заданными физическими, в частности, электрическими свойствами [Текст] : учебное пособие / К. Н. Милицын ; Всесоюз. заоч. энерг. ин-т (Москва). - М. : ВЗЭИ, 1966. - 42 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 42. - 0.09 р.
ГРНТИ
29.19.31.01.33
УДК
537.311.33(07)

Рубрики: Физика--Полупроводники

Кл.слова (ненормированные):
ТЕХНОЛОГИЯ МЕТАЛЛОВ -- КОНСТРУКЦИОННЫЕ МЕТАЛЛЫ -- ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ -- МАТЕРИАЛЫ ВЫСОКОЙ ЧИСТОТЫ -- ГЕРМАНИЙ -- КРЕМНИЙ
Аннотация: О широком применении в электро- и радиотехнике (электронике) различных конструкционных материалов - основные прочностные конструкционные материалы, проводниковые материалы и изделия, магнитные материалы (ферромагнетики), диэлектрики, полупроводниковые материалы и изделия.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.



Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)