| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>U=621.382.049.79.019.3<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

    Ефимов, И. Е.
    Надежность твердых интегральных схем [Текст] : научное издание / И. Е. Ефимов, И. Г. Кальман, В. И. Мартынов. - М. : Изд-во стандартов, 1979. - 217 с. ; 22 см. - 0.95 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Электроника--Интегральные микросхемы

Кл.слова (ненормированные):
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МИКРОСХЕМЫ -- НАДЕЖНОСТЬ МЕХАНИЗМОВ -- МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ КАЧЕСТВА
Аннотация: Приводятся виды и основные причины отказов интегральных схем в процессе производства и эксплуатации.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Кальман, И. Г.
Мартынов, В. И.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)