| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :3
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=рентгеновская топография<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

    Боуэн, Д. К.
    Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография [Текст] = High resolution X-RAY diffractometry and topography : монография / Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер. - Санкт-Петербург : Наука, 2002. - 273, [7] с. : ил. - Библиогр. - ISBN 5-02-024963-7 (в пер.) : 105.00 р.
УДК
539.26:621.315.592
548.73

Рубрики: физика--физика твердого тела

   химия--кристаллография

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская дифрактометрия -- дифрактометрия -- рентгеновская топография -- топография -- дифракция рентгеновских лучей -- высокоразрешающая дифрактометрия -- дефекты в кристаллах -- синхротронное излучение -- эпитаксиальные слои -- материаловедение -- тонкие пленки -- рассеяния теория
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского


Доп. точки доступа:
Таннер, Б. К.

Найти похожие
2.

   
    Синтез и рост совершенных кристаллов и пленок полупроводников [Текст] / Отв.ред.Л.Н.Александров. - Новосибирск : Наука, 1981. - 231 с. : ил. ; 21см. - 3.10 р.
ГРНТИ
45.09
УДК
621.315

Рубрики: Электротехника--Полупроводники

Кл.слова (ненормированные):
электротехника -- полупроводники -- кристаллизация -- пленки -- гомоэпитаксия -- лимитирующие механизмы -- молекулярные пучки -- рентгеновская топография -- микродефекты
Аннотация: Изложены материалы исследований по проблеме получения полупроводниковых кристаллов и пленок.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Александров, Л.Н.
Найти похожие
3.

   
    Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении [Текст] / Под ред.С.Амелинкса,Р.Геверса;Пер.с англ.А.М.Глейзера. - М. : Металлургия, 1984. - 504 с. : ил. ; 21см. - 6.20 р.
ГРНТИ
47.29
УДК
621.385.833:620.1

Рубрики: Электроника--Электронная микроскопия

Кл.слова (ненормированные):
электроника -- дифракционная электронная микроскопия -- рентгенография -- нейронография -- рентгеновская топография -- автоионная микроскопия -- электронная микроскопия -- кластеры -- фазовые преобразователи -- электронограмма -- мартенситные превращения
Аннотация: Изложены структурные методы исследования твердых тел:дифракционная электронная микроскопия,рентгенография,нейтронография,рентгеновская топография,дифракция медленных электронов,автоионная микроскопия.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Амелинкс, С.
Геверс, Р.
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)