| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>KL=испытания микросхем<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

    Глудкин, О. П.
    Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем [Текст] : учеб. пособие для вузов / О. П. Глудкин, В. Н. Черняев. - М. : Энергия, 1980. - 360 с. : ил. ; 20см. - 1.00 р.
ГРНТИ
УДК
ББК 32.844

Рубрики: Электроника--Радиоэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
микросхемы -- аппаратура -- испытания -- испытания микросхем -- излучение -- параметры
Аннотация: В учебнике приведены сведения по основам теории контроля и испытания микроэлементов,микросхем и материалов. Описаны современная технология контроля параметров и испытания, а также испытательное оборудование и контрольно-измерительная аппаратура.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Черняев, В. Н.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)