| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>KL=УСЛОВИЯ РЕГИСТРАЦИИ СПЕКТРОВ<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

    Раков, А. В.
    Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур [Текст] : научное издание / А. В. Раков. - М. : Советское радио, 1975. - 175 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр.: с. 167-173. - 0.55 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Электротехника--Электрические машины

Кл.слова (ненормированные):
ПРИНЦИПИАЛЬНАЯ ОПТИЧЕСКАЯ СХЕМА -- ХАРАКТЕРИСТИКИ СПЕКТРАЛЬНЫХ ПРИБОРОВ -- СПЕКТРОФОТОМЕТРИЯ -- УСЛОВИЯ РЕГИСТРАЦИИ СПЕКТРОВ -- ДИСПЕРСИЯ ОПТИЧЕСКИХ КОНСТАНТ -- МЕТОДЫ СПЕКТРОСКОПИИ -- ЭЛЕКТРООПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ПОЛУПРОВОДНИКОВ
Аннотация: Книга посвящена детальному анализу известных спектрофотометрических методов, позволяющих определять дисперсию оптических констант тонких пленок на различных полупроводниковых подложках.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)