| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ МИКРОСКОПИЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

   
    Техника высоких температур [Текст] / под ред. И. Э. Кэмпбелла ; пер. с англ.: М. А. Маураха, В. П. Елютина = High-temperature teghnology / I. E. Campbell : научное издание. - М. : Изд-во "Иностр. лит.", 1959. - 596 с. : ил., рис., табл. ; 22 см. - Библиогр.: с. 572-574 (80 назв.). - 28.10 р.
Тит. л. парал. на англ. яз.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
МЕТАЛЛОВЕДЕНИЕ -- ПЛАВИЛЬНЫЕ ПЕЧИ -- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ -- МЕТАЛЛЫ И СПЛАВЫ -- КЕРАМИКО-МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ -- РАДИАЦИОННАЯ ПИРОМЕТРИЯ -- ТЕПЛОПРОВОДНОСТЬ МАТЕРИАЛОВ -- ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОДУГОВЫЕ ПЕЧИ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ ГОРЕЛКИ
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Кэмпбелл, И. Э. Campbell I. E.
Маурах, М. А.
Елютин, В. П.
Найти похожие

2.

    Смолмен, Р.
    Современная металлография [Текст] / Р. Смолмен, К. Ашби ; пер.: Е. В. Борисова, Ю. Г. Година ; под ред. В. Б. Семикоза = Modern metallography / R. Smallman ; K. Ashbee : научное издание. - М. : Атомиздат, 1970. - 208 с. : ил. ; 20 см. - 2.17 р.
Тит. л. парал. на англ. яз.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Металлургия--Металловедение

Кл.слова (ненормированные):
ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ПОВЕРХНОСТНАЯ ТОПОГРАФИЯ -- ПОЛЯРИЗАЦИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОГРАФИЯ МЕТАЛЛОВ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП -- ТЕОРИЯ КОНТРАСТА -- АТОМНЫЕ ДЕФЕКТЫ -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ РЕШЕТКА
Аннотация: В книге, написанной известными специалистами в области физики металлов, рассмотрены различные дефекты в кристаллических телах, от которых в основном зависит поведение материалов в определенных условиях. Изложены методы металлографического анализа. Приведены сведения об оптических микроскопах.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Ашби, К. Ashbee K.
Борисова, Е. В.
Годин, Ю. Г.
Семикоза, В. Б.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)