| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>KL=случайно-детерминированные процессы<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

    Сыноров, В. Ф.
    Параметрическая надежность и физические модели отказов интегральных схем [Текст] : научное издание / В. Ф. Cыноров, Р. П. Пивоварова. - Воронеж : Изд-во ВГУ, 1983. - 152 с. : ил. ; 20см. - 1.20 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Электроника--Интегральные микросхемы

Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника -- случайно-детерминированные процессы -- окисление резистивного слоя -- поверхностное окисление -- резистивные пленки -- интегральные схемы -- электромиграция -- параметрическая надежность
Аннотация: Предлагается математический аппарат для оценки параметрической надежности высококачественных изделий микроэлектроники. Основой расчета являются физико-вероятностные модели деграционных процессов, описываемых монотонными случайно-детерминированными функциями. Разработаны конкретные физико-вероятностные модели отказов тонкопленочных элементов интегральных микросхем.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Пивоварова, Р. П.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)