| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=резистивные пленки<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

   
    Структура, топология и свойства пленочных резисторов [Текст] / Л. И. Гурский [и др.] ; под ред. В. А. Лабунова. - Минск : Наука и техника, 1987. - 264 с. : ил. ; 21см. - 2.60 р.
Библиогр.223 назв.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Электротехника--Резисторы

Кл.слова (ненормированные):
электротехника -- резисторы -- пленочные резисторы -- структура резисторов -- топология резисторов -- свойства резисторов -- резистивные элементы -- резистивные пленки
Аннотация: Рассматривается комплексный подход к проектированию и изготовлению резистивных элементов, включающий оптимизацию состава используемых материалов, конструктивно-технологических факторов, структурных характеристик и геометрии пленок для достижения требуемой точности и стабильности электрических параметров резисторов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Гурский, Л. И.
Зеленин, В. А.
Жебин, А. П.
Вахрин, Г. Л.
Лабунов, В. А.
Найти похожие

2.

    Сыноров, В. Ф.
    Параметрическая надежность и физические модели отказов интегральных схем [Текст] : научное издание / В. Ф. Cыноров, Р. П. Пивоварова. - Воронеж : Изд-во ВГУ, 1983. - 152 с. : ил. ; 20см. - 1.20 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Электроника--Интегральные микросхемы

Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника -- случайно-детерминированные процессы -- окисление резистивного слоя -- поверхностное окисление -- резистивные пленки -- интегральные схемы -- электромиграция -- параметрическая надежность
Аннотация: Предлагается математический аппарат для оценки параметрической надежности высококачественных изделий микроэлектроники. Основой расчета являются физико-вероятностные модели деграционных процессов, описываемых монотонными случайно-детерминированными функциями. Разработаны конкретные физико-вероятностные модели отказов тонкопленочных элементов интегральных микросхем.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Пивоварова, Р. П.
Найти похожие

3.

    Бушминский, И. П.
    Конструирование и технология пленочных СВЧ микросхем [Текст] : научное издание / И. П. Бушминский, Г. В. Морозов. - М. : Советское радио, 1978. - 144 с. : табл., рис. ; 20 см. - (Б-ка радиоконструктора). - Библиогр.: с. 137-138 (27 назв.). - 0.40 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ СВЧ -- КОНСТРУКТИВНО-ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПОГРЕШНОСТИ -- ПРОВОДЯЩИЕ ПЛЕНКИ -- РЕЗИСТИВНЫЕ ПЛЕНКИ -- ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПЛЕНКИ
Аннотация: Рассмотрены вопросы конструирования и технологии изготовления пленочных элементов гибридных интегральных схем СВЧ (ГИС СВЧ).
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Морозов, Г. В.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)