| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>KL=поляриметрические измерения<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

    Комраков, Б. М.
    Измерение параметров оптических покрытий [Текст] / Б. М. Комраков. - М. : Машиностроение, 1986. - 136 с. : ил. ; 20см. - (Б-ка приборостроителя). - 0.40 р.
ГРНТИ
УДК
ББК 34.9

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника--Оптоэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
тонкослойные покрытия -- интерферометрия -- рефрактометрия -- поляриметрические измерения -- спектральная теория сигналов -- спектральная аппаратура -- лучевая прочность
Аннотация: Изложен комплекс вопросов по измерению толщины,показателя преломления,дисперсии и других параметров оптических покрытий,используемых в оптоэлектронике.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)