| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=надежность излучателей<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

    Воротинский, В. А.
    Надежность оптоэлектронных полупроводниковых приборов [Текст] / В. А. Воротинский, Н. К. Дадерко, Л. П. Егоров. - М. : Радио и связь, 1983. - 136 с. : ил. ; 20см. - 0.35 р.
ГРНТИ
УДК
ББК 32.85

Рубрики: Электроника--Оптоэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
оптоэлектронные приборы -- надежность -- излучатели -- надежность излучателей -- металлизация -- фотоприемники -- оптопары -- оптоэлектронные микросхемы -- индикаторы -- полупроводниковые приборы
Аннотация: Рассмотрены вопросы расчета, экспериментального определения, использования при эксплуатации параметров надежности знакосинтезирующих индикаторов, оптопар, оптоэлектронных микросхем и элементов волоконно-оптических линий связи. Описаны методы форсированных испытаний, неразрушающего контроля и анализа отказов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Дадерко, Н. К.
Егоров, Л. П.
Найти похожие

2.

    Воротинский, Владимир Александрович.
    Надежность оптоэлектронных полупроводниковых приборов [Текст] : производственно-практическое издание / В. А. Воротинский, Н. К. Дадерко, Л. П. Егоров. - Москва : Радио и связь, 1983. - 135 с. : табл., рис. - Библиогр.: с. 131-134 (64 назв.). - (в обл.) : 0.35 р.
ББК 32.85

Рубрики: Радиоэлектроника--Электроника

Кл.слова (ненормированные):
контроль качества -- надежность излучателей -- надежность оэп -- надежность приборов -- оптопары -- оптоэлектронные приборы -- оэп -- полупроводниковые приборы -- фотоприемники
Аннотация: Рассмотрены вопросы расчета, экспериментального определения, использования при эксплуатации параметров надежности знакосинтезирующих индикаторов, оптопар, оптоэлектронных микросхем и элементов волоконно-оптических линий связи. Описаны методы форсированных испытаний, неразрушающего контроля и анализа отказов.
Держатели документа:
Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова)


Доп. точки доступа:
Дадерко, Николай Кононович
Егоров, Леонид Петрович
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)