| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>KL=контактное тестирование<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

    Горшков, В. Н.
    Надежность оперативных запоминающих устройств ЭВМ [Текст] / В. Н. Горшков. - Л. : Энергоатомиздат, 1987. - 168 с. : ил. ; 20см. - 0.70 р.
ГРНТИ
УДК
ББК 32.972

Рубрики: Вычислительная техника--Архитектура вычислительных машин

Кл.слова (ненормированные):
запоминающие устройства -- помехоустойчивость -- ЭВМ -- элементы памяти -- диагностирование памяти -- контактное тестирование
Аннотация: Произведен анализ влияния надежности памяти на работоспособность ЭВМ. Разработаны математические модели для оценки надежности оперативных запоминающих устройств, позволяющие учесть различные способы резервирования, основные характеристики устройств, влияние сбоев и отказов микросхем, а также некоторые стратегии восстановления. Рассмотрены вопросы диагностирования запоминающих устройств на микросхемах.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)