| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП<.>)
Общее количество найденных документов : 10
Показаны документы с 1 по 10
1.

   
    Лаборатория металлографии [Текст] : учеб. пособие / Е. В. Панченко [и др.]; под ред. Б. Г. Лившица. - М. : Металлургиздат, 1957. - 695 с. : ил., черт. ; 22 см. - Библиогр.: с. 560-572 (449 назв.). - 17.10 р.
Гриф: допущено М-вом высш. и сред. спец. образования СССР в качестве учеб. пособия для металлург. вузов и фак.
УДК
669:539.2

Кл.слова (ненормированные):
МИКРОШЛИФЫ -- МИКРОСТРУКТУРА МЕТАЛЛОВ -- МИКРОСТРУКТУРА СПЛАВОВ -- СВЕТОВОЙ МИКРОСКОП -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП -- МЕТОДЫ КОЛИЧЕСТВЕННОЙ МЕТАЛЛОГРАФИИ -- МИКРОРЕНТГЕНОГРАФИЯ
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Панченко, Е. В.
Скаков, Ю. А.
Попов, К. В.
Кример, Б. И.
Лившиц, Б. Г.
Найти похожие
2.

    Смолмен, Р.
    Современная металлография [Текст] / Р. Смолмен, К. Ашби ; пер.: Е. В. Борисова, Ю. Г. Година ; под ред. В. Б. Семикоза = Modern metallography / R. Smallman ; K. Ashbee : научное издание. - М. : Атомиздат, 1970. - 208 с. : ил. ; 20 см. - 2.17 р.
Тит. л. парал. на англ. яз.
ГРНТИ
53.49
УДК
669:539.2

Рубрики: Металлургия--Металловедение

Кл.слова (ненормированные):
ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ПОВЕРХНОСТНАЯ ТОПОГРАФИЯ -- ПОЛЯРИЗАЦИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОГРАФИЯ МЕТАЛЛОВ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП -- ТЕОРИЯ КОНТРАСТА -- АТОМНЫЕ ДЕФЕКТЫ -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ РЕШЕТКА
Аннотация: В книге, написанной известными специалистами в области физики металлов, рассмотрены различные дефекты в кристаллических телах, от которых в основном зависит поведение материалов в определенных условиях. Изложены методы металлографического анализа. Приведены сведения об оптических микроскопах.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Ашби, К. Ashbee K.
Борисова, Е. В.
Годин, Ю. Г.
Семикоза, В. Б.
Найти похожие
3.

   
    Труды совещания по катодной электронике [Текст] : тр. совещания / Ин-т физики Акад. наук Укр. ССР (Киев). Совещание по катодной электронике (4-9 июня 1951 г. ; Киев) ; отв. ред. Н. Д. Моргулис. - Киев : Изд-во Акад. наук УССР, 1952. - 140 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр. в конце ст. - 7.30 р.
ГРНТИ
47.01.13
УДК
621.385+537.5

Рубрики: Электроника

Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП -- ЭЛЕКТРОННАЯ ЭМИССИЯ -- ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПЛЕНКИ -- ЩЕЛОЧНЫЕ МЕТАЛЛЫ -- ТРАВЛЕНИЕ МЕТАЛЛОВ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- ИМПУЛЬСНЫЕ РАЗРЯДЫ -- ТРУДЫ СОВЕЩАНИЯ -- МАТЕРИАЛЫ КОНФЕРЕНЦИЙ
Аннотация: В настоящем сборнике трудов совещания публикуются в сокращенном виде некоторые из представленных на нем докладов, дискуссии по ним, а также материалы возникающие на этом совещании небольшой дискуссии по вопросу о природе эффективной фото- и вторичноэлектронной эмиссии.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Моргулис, Н. Д.
Найти похожие
4.

    Иваницкий, Г. Р.
    Математические методы исследования структур [Текст] : научное издание / Г. Р. Иваницкий, А. С. Куниский. - М. : Изд-во "Знание", 1975. - 64 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 64 (8 назв.)
ГРНТИ
27.21
УДК
515.4+513.838

Рубрики: Математика--Начертательная геометрия

Кл.слова (ненормированные):
ГЕОМЕТРИЧЕСКИЕ ВЕРОЯТНОСТИ -- СТРУКТУРООБРАЗОВАНИЕ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП -- ОБРАТНОЕ ПРОСТРАНСТВО -- ПРОСТРАНСТВЕННАЯ СТРУКТУРА
Аннотация: В брошюре рассказывается о новых методах математического восстановления пространственной структуры объектов путем анализа их сечений и проекций. По мнению авторов, новые методы найдут широкое применение в практической работе минералогов, петрографов, астрономов и многих других специалистов. научное направление, разрабатывающее математический аппарат исследования трехмерной структуры объектов, называют стереологией.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Куниский, А. С.
Найти похожие
5.

    Кельман, В. М.
    сверхпроводимостьЭлектронная оптика [Текст] : научное издание / В. М. Кельман, С. Я. Явор ; отв. ред. Л. А. Арцимович ; Физико-техн. ин-т (Ленинград). - М. ; Л. : Изд-во Акад. наук СССР, 1959. - 372 с. : ил., табл. ; 27 см. - Библиогр.: с. 365-370. - 25.15 р.
ГРНТИ
29.31
УДК
535

Рубрики: Физика--Оптика

Кл.слова (ненормированные):
ЗАРЯЖЕННЫЕ ЧАСТИЦЫ -- ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПОЛЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ ЛИНЗЫ -- МАГНИТНЫЕ ЛИНЗЫ -- ЭЛЕКТРОННООПТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП -- БЕТА-СПЕКТРОМЕТРЫ
Аннотация: Книга представляет собой подробный курс электронной оптики. Много места в ней уделено общим методам расчета движения заряженных частиц, подробно рассматриваются цилиндрические электронные линзы и разного рода отклоняющие системы.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Явор, С. Я.
Арцимович, Л. А.
Найти похожие
6.

    Кельман, В. М.
    Электронная оптика [Текст] : научное издание / В. М. Кельман, С. Я. Явор ; отв. ред. Л. А. Арцимович ; Физико-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе (Ленинград). - 2-е изд., перераб. и доп. - М. ; Л. : Изд-во Акад. наук СССР, 1963. - 362 с. : ил., табл. ; 27 см. - Библиогр.: с. 354-360. - 2.54 р.
ГРНТИ
29.31
УДК
535:537.122

Рубрики: Физика--Оптика

Кл.слова (ненормированные):
ЗАРЯЖЕННЫЕ ЧАСТИЦЫ -- ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПОЛЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ ЛИНЗЫ -- МАГНИТНЫЕ ЛИНЗЫ -- СФЕРИЧЕСКАЯ АБЕРРАЦИЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП -- БЕТА-СПЕКТРОМЕТРЫ
Аннотация: Книга представляет собой подробный курс электронной оптики. Много места в ней уделено общим методам расчета движения заряженных частиц, подробно рассматриваются цилиндрические электронные линзы и разного рода отклоняющие системы.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Явор, С. Я.
Арцимович, Л. А.
Найти похожие
7.

    Пилянкевич, А. Н.
    Просвечивающая электронная микроскопия [Текст] : монография / А. Н. Пилянкевич ; Акад. наук Укр. ССР (Киев). - Киев : Наукова думка, 1975. - 219 с. : ил., табл. ; 22 см. - (Наука и технический прогресс). - Библиогр.: с. 209-217 (280 назв.). - 1.70 р.
ГРНТИ
29.35
УДК
537.533.35

Рубрики: Физика--Физические основы электроники

Кл.слова (ненормированные):
РАССЕЯНИЕ ЭЛЕКТРОНОВ -- ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОЕ СЕЧЕНИЕ -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ РЕШЕТКА -- ГЕОМЕТРИЧЕСКИЕ ПОГРЕШНОСТИ -- ДЕФОКУСИРОВКА -- ДИФРАКЦИОННЫЕ ЛИНИИ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ ЛИНЗЫ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП
Аннотация: В монографии обобщаются данные по аспектам количественной просвечивающей электронной микроскопии, выбор которых связан с направленностью исследований автора. Работа не претендует на полноту освещения всего комплекса проблем практики современной электронной микроскопии.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.



Найти похожие
8.

    Кельман, В. М.
    Электронная оптика [Текст] : научное издание / В. М. Кельман, С. Я. Явор ; отв. ред. Л. А. Арцимович ; Физико-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе (Ленинград). - 3-е изд., перераб. и доп. - Л. : Наука, 1968. - 488 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с. 476-485 (432 назв.). - 2.46 р.
ГРНТИ
29.31
29.35
УДК
535:537.5

Рубрики: Физика--Оптика

   Физика--Физические основы электроники

Кл.слова (ненормированные):
ЗАРЯЖЕННЫЕ ЧАСТИЦЫ -- МАГНИТНОЕ ПОЛЕ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ ЛИНЗЫ -- МАГНИТНЫЕ ЛИНЗЫ -- ЦИЛИНДРИЧЕСКИЕ ЛИНЗЫ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП
Аннотация: Книга посвящена исследованию движения заряженных частиц в постоянных электрических и магнитных полях. Рассмотрены также параксиальные свойства осесимметричных линз и их аберрации.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Явор, С. Я.
Арцимович, Л. А.
Найти похожие
9.

    Хокс, П.
    Электронная оптика и электронная микроскопия [Текст] / П. Хокс ; пер. с англ. И. Ф. Анаскина, А. М. Розенфельда ; под ред. И. Г. Стояновой = Electron optics and electron microscopy / P. W. Hawkes : научное издание. - М. : Изд-во "Мир", 1974. - 319 с. : ил., табл. ; 21 см. - Библиогр.: с. 296-299 (87 назв.). - 1.66 р.
Тит. л. парал. загл. на англ. яз.
ГРНТИ
29.05
УДК
537.533

Рубрики: Физика--Электронные явления

Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП -- ЭЛЕКТРОННЫЕ ЛИНЗЫ -- РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОАНАЛИЗАТОР -- УРАВНЕНИЯ ТРАЕКТОРИИ -- ПАРАКСИАЛЬНЫЕ СВОЙСТВА
Аннотация: В книге изложены основные сведения о просвечивающих, растровых и зеркальных электронных микроскопах, анализаторах энергии, высоковольтных микроскопах, сверхпроводящих линзах, пушках с автоэлектронной эмиссией и др.; рассмотрены теория передачи контраста, структура аберрационных коэффициентов и коррекция аберраций.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Анаскин, И. Ф.
Розенфельд, А. М.
Стоянова, И. Г.
Найти похожие
10.

   
    Электронная микроскопия тонких кристаллов [Текст] / П. Хирш [и др.] ; под ред. Л. М. Утевского = Electron microscopy of thin crystals / P. B. Hirsch, A. Howie, R. B. Nicholson, D. W. Pashley, M. J. Whelan : монография : пер. с англ. - М. : Изд-во "Мир", 1968. - 574 с. : ил., табл. ; 26 см. - Библиогр. в конце ст. - 3.44 р.
Тит. л. парал. на англ, яз.
ГРНТИ
29.05
УДК
537.533

Рубрики: Физика--Электронные явления

Кл.слова (ненормированные):
ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП -- КИКУЧИ -- КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ ДАННЫЕ -- ТЕОРИЯ КОНТРАСТА
Аннотация: Данная книга освещает основы теории и экспериментальную практику просвечивающей электронной микроскопии кристаллов. Подробно описаны техника приготовления образцов, методика работы с электронным микроскопом, большое внимание уделено теориям дифракции электронов и дифракционного контраста, интерпретации и анализу электронных микрофотографий и микроэлектронограмм реальных кристаллов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Хирш, П. Hirsch P. B.
Хови, А. Howie A.
Николсон, Р. Nicholson R. B.
Пэшли, Д. Pashley D. W.
Уэлан, М. Whelan M. J.
Утевский, Л. М.
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)