Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>KL=ТЕОРИЯ КОНТРАСТА<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Смолмен, Р.
Современная металлография [Текст] / Р. Смолмен, К. Ашби ; пер.: Е. В. Борисова, Ю. Г. Година ; под ред. В. Б. Семикоза = Modern metallography / R. Smallman ; K. Ashbee : научное издание. - М. : Атомиздат, 1970. - 208 с. : ил. ; 20 см. - 2.17 р.
Тит. л. парал. на англ. яз.

ГРНТИ	53.49
УДК	669:539.2

Рубрики: Металлургия--Металловедение

Кл.слова (ненормированные):
ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ПОВЕРХНОСТНАЯ ТОПОГРАФИЯ -- ПОЛЯРИЗАЦИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОГРАФИЯ МЕТАЛЛОВ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП -- ТЕОРИЯ КОНТРАСТА -- АТОМНЫЕ ДЕФЕКТЫ -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ РЕШЕТКА
Аннотация: В книге, написанной известными специалистами в области физики металлов, рассмотрены различные дефекты в кристаллических телах, от которых в основном зависит поведение материалов в определенных условиях. Изложены методы металлографического анализа. Приведены сведения об оптических микроскопах.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Ашби, К. Ashbee K.
Борисова, Е. В.
Годин, Ю. Г.
Семикоза, В. Б.
Найти похожие

Электронная микроскопия тонких кристаллов [Текст] / П. Хирш [и др.] ; под ред. Л. М. Утевского = Electron microscopy of thin crystals / P. B. Hirsch, A. Howie, R. B. Nicholson, D. W. Pashley, M. J. Whelan : монография : пер. с англ. - М. : Изд-во "Мир", 1968. - 574 с. : ил., табл. ; 26 см. - Библиогр. в конце ст. - 3.44 р.
Тит. л. парал. на англ, яз.

ГРНТИ	29.05
УДК	537.533

Рубрики: Физика--Электронные явления

Кл.слова (ненормированные):
ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП -- КИКУЧИ -- КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ ДАННЫЕ -- ТЕОРИЯ КОНТРАСТА
Аннотация: Данная книга освещает основы теории и экспериментальную практику просвечивающей электронной микроскопии кристаллов. Подробно описаны техника приготовления образцов, методика работы с электронным микроскопом, большое внимание уделено теориям дифракции электронов и дифракционного контраста, интерпретации и анализу электронных микрофотографий и микроэлектронограмм реальных кристаллов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Хирш, П. Hirsch P. B.
Хови, А. Howie A.
Николсон, Р. Nicholson R. B.
Пэшли, Д. Pashley D. W.
Уэлан, М. Whelan M. J.
Утевский, Л. М.
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)