| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>KL=МАССПЕКТРОМЕТРИЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

   
    Физико-технологические основы микроэлектроники [Текст] : сб. науч. тр. / Ташкентский политехн. ин-т. - Ташкент : Изд-во ТашПИ, 1985. - 96 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр. в конце ст. - 0.60 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ -- ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- ЛЕГИРОВАНИЕ МАТЕРИАЛА -- МАССПЕКТРОМЕТРИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Аннотация: В сборнике приведены результаты исследований, направленные на повышение надежности электронных и полупроводниковых приборов и интегральных схем. Исследуются физические процессы на поверхности различных материалов (кремния, германия и т. д.), способы их легирования. Комплексное изучение структуры и свойств кристаллов и тонких пленок в работах авторов сборника проводилось методами вторичной ионной масспектрометрии, электронной оже-спектрометрии и электронной микроскопии.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.



Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)