Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

В текущей базе данных найдено документов :8

В других БД по вашему запросу найдено:

Электронный каталог (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>KL=электронные микроскопы<.>)

Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8

Handbuch der Mikroskopie [Текст] : справочное издание. - 3., stark bearb. Aufl. - Berlin : Technik, 1988. - 488 S. : Abb. - Bibliogr. - ISBN 3-341-00283-9 : 203000.00 р.

УДК

621.385.833.2(035)

681.723.2(035)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
оптическая система микроскопа -- стереомикроскопия -- источники света -- светофильтры -- электронные микроскопы -- микроскопы -- оптические микроскопы
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Найти похожие

Синдо, Д.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия [Текст] : моногр. / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванова. - М. : Техносфера, 2006. - 256 с. : ил. ; 22 см. - (Мир материалов и технологий ). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-94836-064-4 : 110.00 р.

ГРНТИ	81.09	47.29
УДК	620.22:621.385.8

ББК 30.3

Рубрики: Материаловедение--Структурный анализ

Электроника--Электронная микроскопия

Кл.слова (ненормированные):
ТРЕХМЕРНАЯ ТОМОГРАФИЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Оикава, Т.
Иванов, С. А.
Найти похожие

Сканирующая туннельная микроскопия [Текст] : рук. пользователя / И. С. Суровцев [и др.] ; Воронежский гос. ун-т. - Воронеж : ВГУ, 1997. - 42 с. : ил. ; 29см. - ISBN 5858131115 : 5р. р.

ГРНТИ	47.29.01.33
УДК	621.385.833(07)

Рубрики: Электроника--Электронные микроскопы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- электронные микроскопы -- микроскопия -- туннельная микроскопия -- сканирующая микроскопия
Аннотация: В руководстве изложены основы практической работы на сканирующем зондовом микроскопе "СКАН-8". Приводится информация об истории, принципах работы и назначения основных типов сканирующих зондовых микроскопов. Подробно рассмотрена методика исследования проводящих объектов на СТМ "СКАН-8" и его устройство. Для студентов и аспирантов химического и биологического факультетов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Суровцев, И. С.
Битюцкая, Л. А.
Долгих, Д. С.
Мамута, М. В.
Найти похожие

Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. С. Л. Баженова с доп. О. В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 384 с. : ил. ; 24 см. - (Мир материалов и технологий ). - ISBN 5-94836-018-0 : 160.00 р.
Гриф: рек. Ин-том химич. физики РАН в качестве учеб. пособия для студ., обуч. по напр. подг. "Прикладные математика и физика" . Имеется электронный аналог печатного издания
Параллельные издания: Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля / Д. Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2006. - 1эл. опт. диск (CD-ROM). - ISBN 5-94836-018-0 (Шифр 620.2(075)/Б87)

ГРНТИ	81.09.01.33
УДК	620.22(075)

ББК 30.3

Рубрики: Материаловедение--Микроанализ материалов

Кл.слова (ненормированные):
МИКРОАНАЛИЗАТОРЫ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ -- МИКРОСТРУКТУРА -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА
Аннотация: Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Каплан, У.
Баженов, С. Л.
Егорова, О. В.
Найти похожие

Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Электронный ресурс] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан. - Электрон. текстовые дан. - М. : Техносфера, 2006. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - Систем. требования: Прил. :Pentium III 900 Mгц ; Adobe Acrobat Reader ; CD-ROM. - Загл. с контейнера. - Б. ц.
Электронный аналог печатного издания. Диски помещены в контейнер 13Х13 см. Режим доступа: http://lib.sstu.ru/books/Ld_110.pdf
Параллельные издания: Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. С. Л. Баженова с доп. О. В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 384 с: ил. - ISBN 5-94836-018-0 (Шифр 620.2(075)/Б87)

ГРНТИ	81.09.01.33
УДК	620.22(075)

ББК 30.3

Рубрики: Материаловедение--Микроанализ материалов

Кл.слова (ненормированные):
МИКРОАНАЛИЗАТОРЫ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ -- МИКРОСТРУКТУРА -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА
Аннотация: Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.

Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Каплан, У.
Найти похожие

Коткис, М. А.
Электронный микроскоп в исследовательской практике машиностроительного завода [Текст] : научное издание / М. А. Коткис. - М. : Изд-во "Машиностроение", 1966. - 56 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр.: с. 54-55 (45 назв.). - 0.15 р.

ГРНТИ	47.33
УДК	621.385+669.0014

Рубрики: Электроника--Электронные приборы

Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ ОПТИКА -- ШЛИФЫ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ -- РАДИОЭЛЕКТРОНИКА -- ЭЛЕКТРОННАЯ ПРОМЫШЛЕННОСТЬ -- ВЫСОКОВОЛЬТНАЯ ТЕХНИКА -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

Шерстнев, Л. Г.
Электронная оптика и электроннолучевые приборы [Текст] : учебник / Л. Г. Шерстнев. - М. : Энергия, 1971. - 368 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр.: с. 357-361 (89 назв.). - 0.91 р.
Гриф: допущено М-вом высш. и сред. спец. образования СССР в качестве учеб. для студ. вузов, обучающихся по спец. "Электронные приборы"

ГРНТИ	29.05.01.33	47.29.29.01.33
УДК	537.533+621.385(075)

Рубрики: Физика--Электронные явления

Электроника--Электронно-лучевые приборы

Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ ОПТИКА -- ИНТЕНСИВНЫЕ ПУЧКИ -- ПУШКИ ПИРСА -- ТЕЛЕВИЗИОННЫЕ ПРИБОРЫ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ
Аннотация: В книге рассмотрены основы геометрической электронной оптики и оптики интенсивных электронных пучков, основные элементы электроннолучевых приборов (фокусирующие и отклоняющие устройства, люминесцирующие экраны), а также принципы работы и характеристики наиболее распространенных и важнейших классов электронно-лучевых приборов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

Лещенко, Вячеслав Григорьевич.
Медицинская и биологическая физика [Текст] : учеб. пособие для высш. учеб. заведений / В. Г. Лещенко, Г. К. Ильич. - Минск : Новое знание : ИНФРА -М, 2012. - 552 с. : ил. - (Высшее образование). - ISBN 978-985-475-456-7 : 287.92 р.

ББК 58я73

Рубрики: Здравоохранение. Медицинские науки--Прикладные отрасли медицины

Кл.слова (ненормированные):
акустика -- биологическая физика -- биологические мембраны -- биомедицинские технологии -- биомеханика -- биопотенциалы -- гемодинамика -- диагностика -- дозиметрические приборы -- дозиметрия -- дозы излучения -- жизнедеятельность организма -- зрение -- инфракрасное излучение -- капиллярные явления -- лазеры -- линзы -- лупы -- лучевая терапия -- магнитно-резонансная томография -- магнитное поле -- магнитные свойства биотканей -- математическая статистика -- медицинская физика -- методы диагностики -- механические волны -- механические колебания -- микроскопы -- молекулы -- переменный ток -- пособия для вузов -- потенциалы клетки -- радиактивность -- реография -- самоиндукция -- свойства жидкостей -- сердечные мышцы -- сканирующая зондовая микроскопия -- спектры атомов -- спектры молекул -- теория вероятностей -- тепловые излучения тел -- термография -- учебники для вузов -- учебные пособия для вузов -- фоновое облучение -- фотобиологические процессы -- электрография органов -- электромагнитные поля в медицине -- электронные микроскопы -- электронный парамагнитный резонанс -- электропроводимость биологических тканей -- электростимуляция сердечной мышцы -- ядерный магнитный резонанс
Аннотация: Рассмотрены физические процессы и явления, сопровождающие и обеспечивающие жизнедеятельность организма, а также физические основы как традиционных, так и современных методов диагностики. В пособие включены также элементы высшей математики, теории вероятностей, основы статистики и корреляционного анализа в соответствии с типовой программой дисциплины.
Держатели документа:
Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова)

Доп. точки доступа:
Ильич, Генрих Казимирович
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)