| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=сканирующая микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

   
    Сканирующая туннельная микроскопия [Текст] : рук. пользователя / И. С. Суровцев [и др.] ; Воронежский гос. ун-т. - Воронеж : ВГУ, 1997. - 42 с. : ил. ; 29см. - ISBN 5858131115 : 5р. р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Электроника--Электронные микроскопы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- электронные микроскопы -- микроскопия -- туннельная микроскопия -- сканирующая микроскопия
Аннотация: В руководстве изложены основы практической работы на сканирующем зондовом микроскопе "СКАН-8". Приводится информация об истории, принципах работы и назначения основных типов сканирующих зондовых микроскопов. Подробно рассмотрена методика исследования проводящих объектов на СТМ "СКАН-8" и его устройство. Для студентов и аспирантов химического и биологического факультетов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Суровцев, И. С.
Битюцкая, Л. А.
Долгих, Д. С.
Мамута, М. В.
Найти похожие

2.

   
    Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения [Текст] : учеб. пособие / М. М. Криштал [и др.]; под общ. ред. М. М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 208 с. : ил. ; 22 см. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 407.00 р.
Гриф: допущено умо по образованию в области металлургии в качестве учеб. пособия для студ. вузов, обуч. по напр. "Металлургия" и "Физическое материаловедение"
ГРНТИ
УДК
ББК 30.3

Рубрики: Материаловедение--Структурный анализ

   Электроника--Электронная микроскопия


Кл.слова (ненормированные):
РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ -- РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ МИКРОАНАЛИЗ -- СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ГАЛЬВАНИЧЕСКОЕ ЦИНКОВАНИЕ -- ЦИНКОВОЕ ПОКРЫТИЕ -- ТРЕЩИНЫ -- СВАРНЫЕ СОЕДИНЕНИЯ -- ЦИНКОВАНИЕ -- КОРРОЗИЯ -- УСТАЛОСТНОЕ РАЗРУШЕНИЕ -- ФРЕТТИНГ -- ФРАКТОГРАФИЯ
Аннотация: Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Криштал, М. М.
Ясников, И. С.
Полунин, В. И.
Филатов, А. М.
Ульяненков, А. Г.
Криштал, М. М.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)