| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>KL=испытание БИС<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

    Дунаев, С. Д.
    Испытание и исследование БИС [Текст] : учеб. пособие для вузов / С. Д. Дунаев ; Воронежский политехн. ин-т. - Воронеж : ВПИ, 1981. - 92 с. : ил. ; 20см. - 0.15 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Электроника--Интегральные схемы

Кл.слова (ненормированные):
БИС -- испытание БИС -- исследование БИС -- контроль качества -- контроль надежности -- микроэлектроника
Аннотация: Изложены основные понятия о качестве ,надежности и способах исследований и способах исследований больших интегральных схем на устойчивость к внешним дестабилизирующим факторам.Рассмотрены особенности измерений электрических параметров больших интегральных схем микропроцессорного набора.Приводятся способ оценки эффективности средств контроля качества и надежности современных изделий микроэлектроники.Для студентов вузов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.



Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)