| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :1
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>KL=измерения в микроэлектронике<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

   
    Измерения и контроль в микроэлектронике [Текст] : учеб. пособие для студентов специальности электрон. техники вузов / Н. Д. Дубовой, В. И. Осокин, А. С. Очков. - Москва : Высш. шк., 1984. - 366, [2] с. : ил. - Библиогр. - ISBN [Б. и.] (в пер.) : 30.00 р.
УДК

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
интегральные микросхемы -- измерения в микроэлектронике -- контроль в микроэлектронике -- автоматические системы измерения -- цифровые интегральные микросхемы -- аналоговые интегральные микросхемы -- контрольно-измерительные операции
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского


Доп. точки доступа:
Дубовой, Н. Д.
Осокин, В. И.
Очков, А. С.

Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)