| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=дифракция электронов<.>)
Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7
1.

    Вудраф, Д.
    Современные методы исследования поверхности [Текст] : пер.с англ. / Д. Вудраф. - М. : Мир, 1989. - 564 с. : ил. ; 21см. - ISBN 5-03-001129-3 : 4.90 р.
ГРНТИ
УДК
ББК 22.37

Рубрики: Физика--Физика твердого тела

Кл.слова (ненормированные):
физика -- молекулярная физика -- исследования поверхности -- дифракция электронов -- ионная спектроскопия -- электронная спектроскопия -- физика поверхности -- кристаллография поверхности -- десорбционная спектроскопия -- термодесорбция -- полевая эмиссия -- микроскоп -- полевая ионизация -- монокристаллические поверхности -- поликристаллические поверхности -- рассеяние пучков -- атомные пучки -- колебательная спектроскопия -- фотоэлектрические измерения -- упругое рассеяние
Аннотация: Излагаются физические основы более двадцати современных методов исследования поверхности(дифракция медленных электронов,ионная и электронная спектроскопия и т.д.).Дается сравнение и сопоставление методов друг с другом в зависимости от исследуемой проблемы физики поверхности.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

2.

    Бублик, В. Т.
    Методы исследования структуры полупроводников и металлов [Текст] : учеб. пособие / В. Т. Бублик. - М. : Металлургия, 1978. - 272 с. : ил. ; 22см. - 0.95 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Испытания материалов--Сопротивление материалов

Кл.слова (ненормированные):
испытание материалов -- сопротивление материалов -- дефекты материалов -- дифракция -- дифракция электронов -- дифракция нейтронов
Аннотация: Изложена теория основных методов исследования структуры магнитных и немагнитных полупроводниковых и диэлектрических кристаллов и эпитаксильных пленок и устройств на их основе, а также металлических материалов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

3.

    Смородинский, Я. А.
    Частицы, кванты, волны [Текст] : научное издание / Я. А. Смородинский. - М. : Изд-во "Знание", 1973. - 64 с. ; 20 см. - (Новое в жизни, науке, технике. Физика ; № 9)
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Физика--Теоретическая физика

Кл.слова (ненормированные):
ПОСТОЯННАЯ ПЛАНКА -- УРАВНЕНИЕ ШРЕДИНГЕРА -- ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ -- СВЕТ -- ЛАЗЕР -- СВЕРХПРОВОДИМОСТЬ
Аннотация: Брошюра знакомит читателей с современным состоянием и перспективами квантовой механики. Автор в своеобразной форме излагает основные вехи на пути развития квантовых представлений и трудности их восприятия.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

4.

   
    Электронная микроскопия тонких кристаллов [Текст] / П. Хирш [и др.] ; под ред. Л. М. Утевского = Electron microscopy of thin crystals / P. B. Hirsch, A. Howie, R. B. Nicholson, D. W. Pashley, M. J. Whelan : монография : пер. с англ. - М. : Изд-во "Мир", 1968. - 574 с. : ил., табл. ; 26 см. - Библиогр. в конце ст. - 3.44 р.
Тит. л. парал. на англ, яз.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Физика--Электронные явления

Кл.слова (ненормированные):
ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП -- КИКУЧИ -- КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ ДАННЫЕ -- ТЕОРИЯ КОНТРАСТА
Аннотация: Данная книга освещает основы теории и экспериментальную практику просвечивающей электронной микроскопии кристаллов. Подробно описаны техника приготовления образцов, методика работы с электронным микроскопом, большое внимание уделено теориям дифракции электронов и дифракционного контраста, интерпретации и анализу электронных микрофотографий и микроэлектронограмм реальных кристаллов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Хирш, П. Hirsch P. B.
Хови, А. Howie A.
Николсон, Р. Nicholson R. B.
Пэшли, Д. Pashley D. W.
Уэлан, М. Whelan M. J.
Утевский, Л. М.
Найти похожие

5.

   
    Катализ [Текст] = Advances in Catalysis and Related Subjects : новые физ. методы исследования : сборник / пер. с англ.: А. А. Дулова [и др.] ; под ред.: А. А. Баландина, А. М. Рубинштейна. - М. : Изд-во "Мир", 1964. - 372 с. : граф., табл., рис. ; 22 см. - Библиогр. в конце ст. - 1.77 р.
Тит. л. парал. на англ. яз.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Химия--Катализ

Кл.слова (ненормированные):
КАТАЛИТИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ -- КАТАЛИЗАТОРЫ -- МАГНИТНЫЙ РЕЗОНАНС -- ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ -- РЕНТГЕНОВСКИЕ СПЕКТРЫ -- РАДИАЦИОННЫЙ КАТАЛИЗ -- АДСОРБЦИЯ -- ХЕМОСОРБЦИЯ -- КАТАЛИТИЧЕСКИ АКТИВНЫЕ ВЕЩЕСТВА
Аннотация: Книга представляет собой очередной том серии "Катализ". В настоящий, двенадцатый, том включено шесть обзорных статей, посвященных новым теоретическим и экспериментальным методам изучения катализа. В них рассматриваются следующие вопросы: использование краев полосы поглощения К-серии рентгеновского спектра для изучения каталитически активных твердых веществ, применение нового метода дифракции электронов для изучения катализаторов, молекулярная специфичность в физической адсорбции. Весьма интересна статья, посвященная технике магнитного резонанса в каталитическом исследовании.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Дулов, А. А.
Клабуновский, Е. И.
Слинкин, А. А.
Якерсон, В. И.
Баландин, А. А.
Рубинштейн, А. М.
Найти похожие

6.

   
    Атомная физика. Теоретические основы и лабораторный практикум [Текст] : учеб. пособие для высш. учеб. заведений / В. Е. Граков [и др.] ; под ред. А. П. Клищенко. - Минск : Новое здание : ИНФРА-М, 2011. - 333 с. - (Высшее образование). - ISBN 978-985-475-384-3 : 224.29 р.
ББК 22.38я73

Рубрики: Физика--Ядерная физика

Кл.слова (ненормированные):
атом -- атом Резерфорд-Бора -- атомная физика -- атомные спектры -- атомные явления -- волны де Бройля -- дифракция электронов -- излучения -- ионизация -- ионизация атомов ртути -- квантовая теория -- квантовые свойства атомов -- квантовые свойства молекул -- кванты -- кристаллические структуры -- лабораторные работы -- опыт Франка и Герца -- опыт Штерна-Герлаха -- пособия для вузов -- постулаты Бора -- рентгеновские спектры -- рентгеновское излучение -- слабые поля -- спектр атома водорода -- спектр атома натрия -- спектры -- уравнение Шредингера -- учебники для вузов -- учебные пособия для вузов -- формула Планка -- эффект Рамзауэра -- ядерный магнитный резонанс
Аннотация: Даны теоретические основы атомной физики и лабораторные работы.
Держатели документа:
Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова)


Доп. точки доступа:
Граков, В. Е.
Маскевич, С. А.
Сокольский, А. А.
Стельмах, Г. Ф.
Стрекаль, Н. Д.
Клищенко, А. П.
Найти похожие

7.

   Баррет, Ч. С.

    Структура металлов [Текст] / Ч. С. Баррет, Т. Б. Массальский ; пер.: М. Л. Бернштейн, С. В. Добаткин. - Москва : Металлургия, 1984.
   Т. II. - 352 с. : ил. - ). - (в пер.) : 3.00 р.
ББК 34.2

Рубрики: Машиностроение--Металловедение

Кл.слова (ненормированные):
Лауэ метод -- детекторный метод регистрации -- дефекты -- дифракция -- дифракция нейтронов -- дифракция электронов -- кристаллическая структура -- кристаллография -- кристаллы -- магнитные структуры -- метод Лауэ -- метод порошка -- метод расходящихся пучков -- монокристаллы -- определение ориентировки -- полюсные фигуры -- рентгеновское излучение -- сверхрешетки -- стереографическая проекция -- текстуры -- текстуры отжига -- теории металлических фаз -- фазовые превращения -- фотографический метод регистрации -- холодная деформация -- электролитические покрытия -- электроны
Держатели документа:
Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова)


Доп. точки доступа:
Массальский, Т. Б.
Бернштейн, М. Л. \\пер.\\
Добаткин, С. В. \\пер.\\
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)