| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :4
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=дифракционные методы<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.

    Ищенко, Анатолий Александрович.
    Структура и динамика свободных молекул и конденсированного вещества [Текст] : научное издание / А. А. Ищенко. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2018. - 655, [1] с. : ил., табл. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 646-655. - ISBN 978-5-9221-1799-9 (в пер.) : 841.00 р.
УДК

Рубрики: химия--физическая химия

Кл.слова (ненормированные):
химические реакции -- динамика химических реакций -- электронная дифракция -- молекулярные структуры -- электронно-колебательные взаимодействия -- внутримолекулярная динамика -- пентагалогениды -- переходные структуры -- электронная кристаллография -- нанокристаллография -- электронная микроскопия -- структурная динамика -- спектральные методы -- дифракционные методы
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Найти похожие

2.

    Быстров, Ю. А.
    Технологический контроль размеров в микроэлектронном производстве [Текст] / Ю.А.Быстров,Е.А.Колгин,Б.Н.Котлецов. - М. : Радио и связь, 1988. - 168 с. : ил. ; 22см. - ISBN 5-256-00006-3 : 0.65 р.
ГРНТИ
УДК
ББК 32.844

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
электроника -- фотоэлектрические методы -- телевизионные методы -- рентгенотелевизионные методы -- дифракционные методы -- контроль фаски
Аннотация: Рассматриваются различные методы и средства измерения линейных размеров,толщин и глубин топологических элементов интегральных микросхем с позиций их применимости для неразрушающего и оперативного контроля в процессе производства.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Колгин, Е. А.
Котлецов, Б. Н.
Найти похожие

3.

    Бабич, В. М.
    Асимптотические методы в задачах дифракции коротких волн [Текст] : метод эталонных задач / В. М. Бабич, В. С. Булдырев. - М. : Наука, 1972. - 456 с. : ил., рис., табл. ; 22 см. - Библиогр.: с. 447-456. - 1.96 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Физика--Волны

Кл.слова (ненормированные):
КОРОТКИЕ ВОЛНЫ -- ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ -- ЭТАЛОННЫЕ ЗАДАЧИ -- АСИМПТОМАТИКА -- ЛУЧЕВОЙ МЕТОД -- ВОЛНОВОЕ ПОЛЕ -- МНОГОЗЕРКАЛЬНЫЕ РЕЗОНАТОРЫ
Аннотация: Книга посвящена современным способам построения коротковолновой асимптотики дифракционных задач: лучевому методу, методу параболического уравнения и методу эталонных задач. Рассматриваются разные приемы нахождения асимптотики собственных функций оператора Лапласа и функций Грина для уравнения Гельмгольца.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Булдырев, В. С.
Найти похожие

4.

    Вилков, Л. В.
    Физические методы исследования в химии [Текст] : структурные методы и оптическая спектроскопия : учебник / Л. В. Вилков, Ю. А. Пентин. - М. : Высшая школа, 1987. - 366 с. : ил. ; 23 см. - Библиогр.: с. 356-358. - Предм. указ.: с. 359-364. - 1.20 р.
Гриф: допущено М-вом высш. и сред. спец. образования СССР в качестве учебника для студ. хим. спец. вузов
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Химия--Физическая химия

Кл.слова (ненормированные):
СПЕКТРОСКОПИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ -- ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ -- ОПТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ -- МЕТОДЫ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИИ -- ДИПОЛЬНЫЕ МОМЕНТЫ -- ВРАЩАТЕЛЬНЫЕ СПЕКТРЫ -- ГАЗОВАЯ ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ -- КОЛЕБАТЕЛЬНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
Аннотация: В учебнике приведена общая классификация физических методов и характеристика их прямых и обратных задач. Изложены теоретические основы, техника эксперимента и применение масс-спектрометрии, диэлькометрии и метода молекулярных пучков, газовой электронографии, методов вращательной (микроволновой и комбинационного рассеяния), колебательной (ИК и КР) и электронной (УФ) спектроскопии. Рассмотрены возможности их использования в химических исследованиях.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Пентин, Ю. А.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)