| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>KL=базовые элементы<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

    Кейджян, Г. А.
    Прогнозирование надежности микроэлектронной аппаратуры на основе БИС [Текст] / Г. А. Кейджян. - М. : Радио и связь, 1987. - 152 с. : ил. ; 21см. - 1.20 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронная аппаратура -- микроэлектроника -- БИС -- прогнозирование надежности -- базовые элементы
Аннотация: В книге систематизированы расчетные и экспериментальные методы оценки и прогнозирования надежности применительно к конкретному этапу разработки и производства БИС и МЭА, приведена методика оценки информативности и эффективности методов прогнозирования,показано влияние функциональной сложности БИС на модель надежности МЭА.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)