| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>KL=ЭКЗОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

    Дехтяр, Ю. Д.
    Экзоэлектронная спектроскопия точечных дефектов полупроводников. Конспект лекций [Текст] : курс лекций / Ю. Д. Дехтяр ; Риж. техн. ун-т. - Рига : РТУ, 1993. - 59 с. ; 20 см. - Библиогр.: с. 48-59 (101 назв.) . - 28.00 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Физика--Полупроводники

Кл.слова (ненормированные):
ЭКЗОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- ТОЧЕЧНЫЕ ДЕФЕКТЫ -- ДИАГНОСТИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ -- ЭФФЕКТ СТЕБЛЕРА-ВРОНСКОГО -- СПЕКТРОСКОПИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВ -- ЭКЗОЭМИССИОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- ЭКЗОЭМИССИЯ КРЕМНИЯ
Аннотация: Рассмотрено новое направление диагностики поверхностных слоев полупроводников, основанное на регистрации фотостимулированной экзоэлектронной эмиссии (ФТСЭ). Проанализированы механизмы этого явления для материалов с энергетической целью. Описаны эффект оптического гашения ФТСЭ: экзоэмиссионное проявление в axSi:H эффекта Стеблера-Вронского (фотоиндуцированные структурные превращения). Проиллюстрированы возможности экзоэмиссионной спектроскопии точечных дефектов полупроводников.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.



Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)