| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :4
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=МИКРОАНАЛИЗАТОРЫ<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.

   
    Рентгеноспектральный электронно-зондовый микроанализ природных объектов [Текст] : научное издание / Л. А. Павлова, О. Ю. Белозерова, Л. Ф. Парадина ; . - Новосибирск : Наука, 2000. - 219, [5] с. ; 21 см. - Библиогр. в конце ст. - ISBN 5-02-031533-8 (в пер.) : 35.00 р.
УДК

Рубрики: химия--аналитическая химия

Кл.слова (ненормированные):
рентгеноспектральный микроанализ -- электронные зонды -- микроанализаторы -- минералогия
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского


Доп. точки доступа:
Павлова, Л. А.
Белозерова, О. Ю.
Парадина, Л. Ф.

Найти похожие

2.

    Брандон, Д.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. С. Л. Баженова с доп. О. В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 384 с. : ил. ; 24 см. - (Мир материалов и технологий ). - ISBN 5-94836-018-0 : 160.00 р.
Гриф: рек. Ин-том химич. физики РАН в качестве учеб. пособия для студ., обуч. по напр. подг. "Прикладные математика и физика" . Имеется электронный аналог печатного издания
Параллельные издания: Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля / Д. Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2006. - 1эл. опт. диск (CD-ROM). - ISBN 5-94836-018-0 (Шифр 620.2(075)/Б87)
ГРНТИ
УДК
ББК 30.3

Рубрики: Материаловедение--Микроанализ материалов

Кл.слова (ненормированные):
МИКРОАНАЛИЗАТОРЫ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ -- МИКРОСТРУКТУРА -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА
Аннотация: Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Каплан, У.
Баженов, С. Л.
Егорова, О. В.
Найти похожие

3.

    Брандон, Д.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Электронный ресурс] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан. - Электрон. текстовые дан. - М. : Техносфера, 2006. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - Систем. требования: Прил. :Pentium III 900 Mгц ; Adobe Acrobat Reader ; CD-ROM. - Загл. с контейнера. - Б. ц.
Электронный аналог печатного издания. Диски помещены в контейнер 13Х13 см. Режим доступа: http://lib.sstu.ru/books/Ld_110.pdf
Параллельные издания: Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. С. Л. Баженова с доп. О. В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 384 с: ил. - ISBN 5-94836-018-0 (Шифр 620.2(075)/Б87)
ГРНТИ
УДК
ББК 30.3

Рубрики: Материаловедение--Микроанализ материалов

Кл.слова (ненормированные):
МИКРОАНАЛИЗАТОРЫ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ -- МИКРОСТРУКТУРА -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА
Аннотация: Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.

Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Каплан, У.
Найти похожие

4.

    Рыдник, Виталий Исаакович.
    Увидеть невидимое [Текст] : научно-популярная литература / В. И. Рыдник. - Москва : Энергоиздат, 1981. - 183 с. : ил. - Б. ц.
ББК 22.34

Рубрики: Физика--Теоретическая физика

Кл.слова (ненормированные):
волны -- интроскопия -- метод рассеяния -- микроанализаторы -- нейтронография -- оптика -- оптические инструменты -- оптические микроскопы -- рентгеноструктурный анализ -- телескопы -- ускорители частиц -- электронография
Аннотация: Важнейшим инструментом для проникновения в невидимый мир молекул, атомов, атомных ядер и элементарных частиц в течение последних трех веков служит метод рассеяния электромагнитных корпускулярных волн.
Держатели документа:
Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)