| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=ИСПЫТАНИЕ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

    Грин, Г. И.
    Измерение параметров и испытание полупроводниковых приборов [Текст] : учеб.пособие для вузов / Г.И.Грин. - М. : Высшая школа, 1978. - 216 с. : ил. ; 20см. - 0.45 р.
ГРНТИ
УДК
ББК 32.852

Рубрики: Электроника--Полупроводниковые приборы

Кл.слова (ненормированные):
измерение параметров -- испытание полупроводниковых приборов -- измерительные схемы -- усилители
Аннотация: Изложены основные сведения о физических явлениях в полупроводниковых приборах,их конструкции и применении.Описан технологический процесс производства полупроводниковых приборов. Особое внимание уделено описанию схем измерительных устройств и технологических приемов при измерениях и испытаниях полупроводниковых приборов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

2.

    Курносов, А. И.
    Технология и оборудование производства полупроводниковых приборов [Текст] : учебник / А. И. Курносов, В. В. Юдин. - 2-е изд., перераб. и доп. - Л. : Изд-во "Судостроение", 1971. - 264 с. : ил., граф., табл., черт. ; 21 см. - Библиогр.: с. 261 (12 назв.). - 0.78 р.
Гриф: допущено М-вом высш. и сред. спец. образования СССР в качестве учебника для техникумов электрон. пром-сти
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Электроника--Полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ -- МЕТОДЫ ОБРАБОТКИ МАТЕРИАЛОВ -- ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВАЯ ОБРАБОТКА -- ЗАЩИТА ПОВЕРХНОСТИ -- ИСПЫТАНИЕ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ
Аннотация: В книге изложена технология изготовления полупроводниковых приборов; конденсация в вакууме, элионика, фотолитография; описываются процессы защиты поверхности; дается методика измерений параметров, испытаний и оценки надежности полупроводниковых приборов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Юдин, В. В.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)