Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: <.>A=Ульяненков, $<.>

Общее количество найденных документов : 1

Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения [Текст] : учеб. пособие / М. М. Криштал [и др.]; под общ. ред. М. М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 208 с. : ил. ; 22 см. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 407.00 р.
Гриф: допущено умо по образованию в области металлургии в качестве учеб. пособия для студ. вузов, обуч. по напр. "Металлургия" и "Физическое материаловедение"

ГРНТИ	81.09.01.33	47.29.01.33
УДК	620.22:621.385.8(075.8)

ББК 30.3

Рубрики: Материаловедение--Структурный анализ

Электроника--Электронная микроскопия

Кл.слова (ненормированные):
РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ -- РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ МИКРОАНАЛИЗ -- СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ГАЛЬВАНИЧЕСКОЕ ЦИНКОВАНИЕ -- ЦИНКОВОЕ ПОКРЫТИЕ -- ТРЕЩИНЫ -- СВАРНЫЕ СОЕДИНЕНИЯ -- ЦИНКОВАНИЕ -- КОРРОЗИЯ -- УСТАЛОСТНОЕ РАЗРУШЕНИЕ -- ФРЕТТИНГ -- ФРАКТОГРАФИЯ
Аннотация: Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Криштал, М. М.
Ясников, И. С.
Полунин, В. И.
Филатов, А. М.
Ульяненков, А. Г.
Криштал, М. М.
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)