| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>A=Козырь, Иван Яковлевич$<.>
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

    Ефимов, Иван Ефимович.
    Микроэлектроника. Физические и технологические основы, надежность [Текст] : учеб. пособие / И. Е. Ефимов, И. Я. Козырь, Ю. И. Горбунов. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Высшая школа, 1986. - 464 с. : ил. - Библиогр.: с. 458. - Предм. указ.: с. 459 - 461. - 01.60 р.
ББК 32.85я73

Рубрики: Радиоэлектроника--Электроника

Кл.слова (ненормированные):
БИС -- ИМС -- интегральные микросхемы -- история микроэлектроники -- история электроники -- микроэлектроника -- полупроводники -- учебные пособия
Аннотация: В книге изложены основные принципы и направления развития микроэлектроники; приведена классификация изделий микроэлектроники и их общая характеристика; описаны физико-химические основы и технология изготовления полупроводниковых и гибридных ИМС и БИС. Во 2-ом издании (1-у - 1977) использованы последние достижения в разработке ИМС, более подробно рассмотрены новые технологические процессы и т.д.
Держатели документа:
Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова)


Доп. точки доступа:
Козырь, Иван Яковлевич
Горбунов, Юрий Иванович
Найти похожие

2.

    Микроэлектроника [Текст] : в 9 кн.: учеб. пособие / Л. А. Коледов. - Москва : Высшая школа, 1987.
   Кн. 5 : Качество и надежность интегральных микросхем / И. Я. Козырь. - 160 с. : ил. - (Микроэлектроника). - Библиогр.: с. 159. - 0.30 р.
ББК 32.844.1я73

Рубрики: Радиоэлектроника--Электроника

Кл.слова (ненормированные):
БИС -- ИМС -- МСБ -- большие интегральные схемы -- гибридные микросхемы -- интегральные микросхемы -- контроль качества -- микросборка -- микроэлектроника -- оценка качества -- показатели надежности -- расчет надежности
Аннотация: В пособии приведены сведения об основных понятиях теории и количественных показателях качества и надежности интегральных микросхем; рассмотрены методы контроля качества, расчета и оценки надежности, а также вопросы прогнозирования и повышения показателей качества и надежности ИМС И БИС.
Держатели документа:
Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова)


Доп. точки доступа:
Коледов, Л. А.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)