| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>A=Брюнин, $<.>
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

    Брюнин, В. Н.
    Анализ надежности микроэлектронных систем при автоматизированном проектировании [Текст] / В. Н. Брюнин, М. Х. Булатов. - М. : Радио и связь, 1984. - 216 с. : ил. ; 20см. - 1.10 р.
ГРНТИ
УДК
ББК 30.14

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
электроника -- микроэлектроника -- микроэлектронные системы -- автоматизированное проектирование -- надежность систем -- методы моделирования -- алгоритмы -- программы моделирования -- сложные микроэлектронные системы -- СМС -- надежность СМС
Аннотация: Излагаются методы, алгоритмы и программы моделирования надежности сложных микроэлектронных систем (с различными видами резервирования, с встроенным контролем и самовосстановлением, с гибкой перестраиваемой структурой).
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Булатов, М. Х.
Найти похожие

2.

    Пролейко, В. М.
    Системы управления качеством изделий микроэлектроники [Текст] : теория и применение / В. М. Пролейко, В. А. Абрамов, В. Н. Брюнин. - М. : Советское радио, 1976. - 224 с. : ил. ; 24 см. - Библиогр.: с. 215-219. - 1.12 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Электроника--Микроэлектроника

Кл.слова (ненормированные):
СЛОЖНЫЕ СИСТЕМЫ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ -- ИНФОРМАЦИОННЫЕ МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ -- КИБЕРНЕТИЧЕСКИЕ МОДЕЛИ -- МНОГОСТАДИЙНЫЕ СИСТЕМЫ -- АВТОМАТИЗИРОВАННЫЕ СИСТЕМЫ УПРАВЛЕНИЯ
Аннотация: Излагаются принципы построения, методология моделирования, анализа и оптимизации систем управления качеством изделий микроэлектроники на этапах проектирования, производства и применения.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Абрамов, В. А.
Брюнин, В. Н.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)