| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: <.>A=Амелинкс, $<.>
Общее количество найденных документов : 1
1.

   
    Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении [Текст] / Под ред.С.Амелинкса,Р.Геверса;Пер.с англ.А.М.Глейзера. - М. : Металлургия, 1984. - 504 с. : ил. ; 21см. - 6.20 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Электроника--Электронная микроскопия

Кл.слова (ненормированные):
электроника -- дифракционная электронная микроскопия -- рентгенография -- нейронография -- рентгеновская топография -- автоионная микроскопия -- электронная микроскопия -- кластеры -- фазовые преобразователи -- электронограмма -- мартенситные превращения
Аннотация: Изложены структурные методы исследования твердых тел:дифракционная электронная микроскопия,рентгенография,нейтронография,рентгеновская топография,дифракция медленных электронов,автоионная микроскопия.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Амелинкс, С.
Геверс, Р.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)