| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :3
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (4)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=681.723.2<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 535965
681.4/Д 95
Автор(ы) : Дюков, Валентин Георгиевич, Кудеяров, Юрий Алексеевич
Заглавие : Растровая оптическая микроскопия : научное издание
Выходные данные : Москва: Наука, 1992
Колич.характеристики :208 с.: ил.
Серия: Современные физико-технические проблемы
Примечания : Библиогр.
ISBN, Цена 5-02-014374-X: 42.00 р.
УДК : 681.723.2
Предметные рубрики: техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы--оптическая микроскопия--растровые оптические микроскопы
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 900524
Автор(ы) : Егорова, Ольга Владимировна
Заглавие : Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей : научное издание . -2-е изд., перераб.
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2007
Колич.характеристики :357, [3] с.: рис., табл.
Серия: Мир материалов и технологий
Примечания : Библиогр.: с. 355-357 (60 назв.)
ISBN (в пер.), Цена 978-5-94836-129-1: 325.00 р.
УДК : 681.723.2
Предметные рубрики: техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы--микроскопия--методы исследования--стандартизация--контроль качества
Найти похожие

3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 009163
Автор(ы) : Усанов, Дмитрий Александрович
Заглавие : Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области ее применения : научное издание
Выходные данные : Саратов: Издательство Саратовского университета, 2010
Колич.характеристики :98, [2] с
Разночтения заглавия :Загл., сост. каталогизатором: Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области её применения
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN, Цена 978-5-292-03937-2: 98.21 р.
УДК : 621.385.833 + 681.723.2
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы
техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): свч-микроскопы--ближнеполевые свч- микроскопы--сканирующая туннельная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--нанотехнологии--линии передачи--свч-резонаторы
Аннотация: В последние несколько десятилетий в практику вошли средства измерений, работающие в нанометровом масштабе: сканирующие туннельные, атомносиловые и СВЧ-ближнеполевые микроскопы. В настоящем издании рассмотрены принципы действия, основные характеристики, обсуждены достоинства и недостатки, приведены примеры применения различных типов ближнеполевых сканирующих СВЧ-микроскопов. Для ученых, преподавателей и студентов, занимающихся исследованиями в области нано- и биомедицинских технологий.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)