| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :1
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (1)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>U=621.385.833(0.034.4)<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 429577
Автор(ы) : Kaupp, Gerd
Заглавие : Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces [Electronic resource] : научное издание
Выходные данные : Berlin; Heidelberg: Springer, 2006?
Колич.характеристики :1 эл. опт. диск (CD-ROM)
Серия: NanoScience and Technology .
    Springer eBook Collection
Вид и объем ресурса: Электрон. текстовые дан.
ISBN (в кор.), Цена 9783540284727: 630.00 р.
УДК : 621.385.833(0.034.4) + 681.723.2(0.034.4)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы
техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы--атомно-силовая микроскопия(асм)--сканирующая туннельная микроскопия--оптическая микроскопия--нанотехнологии--наноцарапины
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)