| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=621.382.019.3<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.382/Б 24
Автор(ы) : Бардин В. М.
Заглавие : Надежность силовых полупроводниковых приборов : научное издание
Выходные данные : М.: Энергия, 1978
Колич.характеристики :96 с.: ил.; 20 см
Примечания : Библиогр.: с. 91
Цена : 0.30 р.
ГРНТИ : 47.14.07
УДК : 621.382.019.3
Предметные рубрики: Электроника-- Полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): преобразовательные устройства--тиристоры--токовые перегрузки--тепловое циклирование--диоды
Аннотация: Рассмотрена надежность силовых полупроводниковых приборов.
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.382/П 85
Автор(ы) : Пряников В. С.
Заглавие : Прогнозирование отказов полупроводниковых приборов : научное издание
Выходные данные : М.: Энергия, 1978
Колич.характеристики :112 с.: ил.; 20 см
Примечания : Библиогр.: с. 105-110
Цена : 0.30 р.
ГРНТИ : 47.14.07
УДК : 621.382.019.3
Предметные рубрики: Электроника-- Полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефекты полупроводниковых приборов--низкочастотный шум--долговечность транзисторов--отказы полупроводниковых приборов
Аннотация: Рассмотрены физические процессы, обусловливающие низкочастотный шум и отказы полупроводниковых приборов.
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.382/Г 71
Автор(ы) : Горюнов Н. Н.
Заглавие : Свойства полупроводниковых приборов при длительной работе и хранении : научное издание
Выходные данные : М.: Энергия, 1970
Колич.характеристики :103 с.: ил., граф., табл.; 20 см
Серия: Б-ка по радиоэлектронике; Вып. 23
Примечания : Библиогр.: с. 100-102
Цена : 0.31 р.
ГРНТИ : 47.33
УДК : 621.382.019.3
Предметные рубрики: Электроника-- Полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые диоды--транзисторы--проектирование аппаратуры--диоды--кристаллы--короткие замыкания
Аннотация: Рассказывается о свойствах полупроводниковых диодов и транзисторов при их длительной работе и хранении. Описаны основные причины отказов приборов, связанные с явлениями на поверхности кристаллов, пробоем переходов, разрушением контактов. Приведены математические модели процессов отказов. Излагаются технические требования к качеству и надежности приборов, методы их проверки и обработки результатов испытаний. Даны сведения об ускоренных испытаниях и неразрушающем контроле качества.
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)