| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :2
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (2)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=621.315.592.08(075.8)<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 331705
621.315.592/П 12
Автор(ы) : Павлов, Лев Павлович
Заглавие : Методы измерения параметров полупроводниковых материалов : Учеб. для студентов вузов . -2-е изд., перераб. и доп.
Выходные данные : Москва: Высш. шк., 1987
Колич.характеристики :238, [2] с
Примечания : Загл. 1-го изд.: Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов
ISBN (в пер.), Цена Б. и.: 30.00 р.
УДК : 621.315.592.08(075.8)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые материалы--измерения параметров полупроводников--вольт-фарадные методы измерения
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.315(075)/П 12
Автор(ы) : Павлов Л. П.
Заглавие : Методы измерения параметров полупроводниковых материалов : Учеб.для вузов по спец."Полупроводниковые и микроэлектронные приборы" . -2-е изд.,перераб.и доп.
Выходные данные : М.: Высшая школа, 1987
Колич.характеристики :239 с.: ил.; 22см
Цена : 0.85,20.00 р.
ГРНТИ : 45.09.35.01.33
УДК : 621.315.592.08(075.8)
ББК : 31.233
Предметные рубрики: Электротехника-- Полупроводники
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводники--удельное сопротивление--эдс холла--магнитосопротивление--неравновесные носители заряда--методы измерения
Аннотация: В книге изложены основы методов измерения электрофизических параметров полупроводниковых материалов, рассматриваются вопросы их практической реализации; даны условия и границы применения методов измерения; проведён анализ причин возникновения погрешностей.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)