| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
в найденном
В текущей базе данных найдено документов :48
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (14)ЭБС "ЛАНЬ" (1)Публикации учёных СГУ (5)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=электронная микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 48
Показаны документы с 1 по 20
 1-20    21-40   41-48 
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 001579
611.018(076.5)/Ш 49
Автор(ы) : Шереметьева, Галина Фёдоровна, Кочарян, Евгения Захарьевна
Заглавие : Методы гистологических исследований : научное издание
Выходные данные : Москва: НЦХ РАМН, 1995
Колич.характеристики :37 с
Примечания : Библиогр. - Авт. указаны на обороте тит. л.
ISBN, Цена 5-900895-01-7: 4000.00 р.
УДК : 611-018(076.5)
Предметные рубрики: медицина-- анатомия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): гистология--артефакты--гистохимия--микроскопия--электронная микроскопия--радиоавтография--ткани биологические
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 130003
57:621.37/39/F85
Автор(ы) : Frank, Joachim
Заглавие : Three-Dimensional Electron Microscopy of Macromolecular Assemblies : научное издание
Выходные данные : San Diego a. o.: Acad. Press, 1996
Колич.характеристики :342 p.: fig.
Примечания : Bibliogr.
ISBN, Цена 0-12-265040-9: 17.00 р.
УДК : 578.6
Предметные рубрики: биология-- биология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): биология--электронная микроскопия--макромолекулярные схемы
Найти похожие

3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 097026
017.7:34+343.977/Е 74
Автор(ы) : Ермолаев, Сергей Анатольевич, Мельников И. Н., Орлов, Федор Павлович
Заглавие : Естественно-научные методы и технические средства экспертного исследования : учеб. пособие
Выходные данные : Саратов: Изд-во СЮИ МВД РФ, 2000
Колич.характеристики :151 с.: ил.
Примечания : Библиогр.
ISBN, Цена 5-7485-0140-6: 25.00 р.
УДК : 343.983
Предметные рубрики: государство и право-- уголовное право
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): цифровые изображения--химический анализ--масс-спектрометрия--технические средства--хроматография--криминалистическая экспертиза--спектроскопия--электронная микроскопия--микроскопы--рентгеновские лучи
Аннотация: Рассматриваются современные наукоемкие методы исследования веществ; пособие содержит большой практический материал по применению естественно-научных методов для решения задач криминалистики.
Найти похожие

4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 519091
561.07/Т 51
Автор(ы) : Токарев П. И.
Заглавие : Морфология и ультраструктура пыльцевых зерен : научное издание
Выходные данные : Москва: КМК, 2002
Колич.характеристики :51, [1] с
ISBN, Цена 5-87317-102-5: 35.00 р.
УДК : 561:581.3:537.533.35
Предметные рубрики: палеонтология-- палеоботаника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): палинология--пыльца--споры--пыльцевые зерна--спородермы--электронная микроскопия--электронная микроскопия--спородермы--палинологические исследования
Найти похожие

5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 551/А 95
Автор(ы) : Ахлестина Е. Ф., Иванов А. В.
Заглавие : Кремниевые породы мела и палеогена Поволжья : научное издание
Параллельн. заглавия :Cretaceous and paleogene siliceous rocks from the volga region/ E. F. Akhlestina, A. V. Ivanov
Выходные данные : М.: ИД "Камертон", 2009
Колич.характеристики :325 с.: ил.; 21 см
Примечания : Библиогр.: с. 319-324
ISBN, Цена 978-5-904142-02-5: 120.00 р.
ГРНТИ : 38.21
УДК : 551.7
ББК : 26.33
Предметные рубрики: Геология-- Региональная геология --Поволжье
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кремниевые породы--мел--палеоген--литолого-минералогические методы--термические методы--химические методы--рентгенодифрактометрия--электронная микроскопия
Найти похожие

6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 296450
Заглавие : Методы и средства микроскопии : метод. указания
Выходные данные : Екатеринбург: Изд-во УМЦ УПИ, 2005
Колич.характеристики :187, [1] с.: ил.
Коллективы : ГОУ ВПО "Уральский государственный технический университет - УПИ"
Примечания : Библиогр.: с. 186-187 (25 назв.)
ISBN, Цена [Б. и.]: 65.00 р.
УДК : 681.723.2(072.8) + 620.22(072.8)
Предметные рубрики: техника-- оптические приборы-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопия--микроскопы--оптическая микроскопия--электронная микроскопия--зондовая микроскопия --обработка изображений--наночастицы--биологические объекты
Найти похожие

7.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.2
Автор(ы) : Фурсей, Георгий Николаевич
Заглавие : Автоэлектронная эмиссия : научное издание
Выходные данные : Санкт-Петербург; Москва; Краснодар: Лань, 2012
Колич.характеристики :319, [5] с.: ил., фото. цв.
Серия: Учебники для вузов. Специальная литература
Примечания : Библиогр.: с. 274-311 (517 назв.)
ISBN (в пер.), Цена 978-5-8114-1232-7: 455.00 р.
УДК : 537.533.2 + 621.385
Предметные рубрики: физика-- электромагнетизм
радиотехника.электроника-- электронные приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): автоэлектронная эмиссия--металлы--полупроводники--точечные автоэлектронные катоды--электронная микроскопия--электронно-оптические устройства--вакуумная наноэлектроника
Найти похожие

8.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 539.21
Заглавие : Наноструктурные покрытия : научное издание
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2011
Колич.характеристики :750, [2] с.: ил.
Серия: Мир материалов и технологий; 28
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN, Цена 978-5-94836-182-6 (в пер.): 1247.00 р.
ISBN, Цена 978-0-38-725642-9: Б.ц.
УДК : 539.21 + 620.3-408
Предметные рубрики: физика-- физика твердого тела
техника-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): твердые тела--наноструктурные покрытия--покрытия--наноструктурные металлы--деформации--дефекты--наноиндентирование--электронная микроскопия--наноструктурные твердые пленки--нанокомпозиты--магнетронное напыление--синтез--разрушение покрытий--трибология
Найти похожие

9.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.382.3
Автор(ы) : Груздов, Вадим Владимирович, Колковский, Юрий Владимирович, Концевой, Юлий Абрамович
Заглавие : Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике : учебное пособие
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2016
Колич.характеристики :327, [1] с.: ил.
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN (в пер.), Цена 978-5-94836-426-1: 1170.40 р.
УДК : 621.382.3
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): твердотельная электроника--свч-электроника--интеллектуальная собственность--стандарты--свч-транзисторы--полупроводниковые приборы--технологические процессы (тп)--широкозонные материалы--контроль качества--гетероструктуры--электронная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--электронная спектроскопия--рентгеновская дифрактометрия
Найти похожие

10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.18
Автор(ы) : Карпасюк, Владимир Корнильевич, Смирнов, Андрей Михайлович
Заглавие : Зондирующие методы исследований в материаловедении : учебное пособие
Выходные данные : Астрахань: Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014
Колич.характеристики :214, [2] с.: ил.
Коллективы : ФГБОУ ВПО "Астраханский государственный университет", Центр Функцион. Магнит. Материалов
Примечания : Библиогр.: с. 209-214 (91 назв.)
ISBN, Цена 978-5-91910-342-4: 293.00 р.
УДК : 620.18
Предметные рубрики: техника-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материаловедение--зондирование --структурный анализ--ферромагнитный резонанс--ядерный магнитный резонанс (ямр)--рентгеноструктурный анализ--нейтронография--электронография--электронная микроскопия--оже-электронная спектроскопия--рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия--масс-спектрометрия--сканирующая зондовая микроскопия
Аннотация: Содержит изложение физических основ, принципов аппаратурной реализации, метрологических характеристик и применений методов исследования, основанных на зондировании твердых тел электромагнитными волнами высоких и сверхвысоких частот, рентгеновскими лучами, гамма-квантами, потоками электронов, ионов и нейтронов. Рассмотрены явления взаимодействия излучений различного вида с веществом, приведены необходимые сведения из кристаллографии и оптики пучков частиц. Представлены также методы сканирующей зондовой микроскопии, в том числе туннельная, атомно-силовая и ближнепольная оптическая микроскопия. Прикладные вопросы рассмотрены, в основном, на примере исследования материалов для магнитной и спиновой электроники и некоторых наноструктурированных сред. К каждому разделу подобраны вопросы и упражнения.
Найти похожие

11.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 544
Автор(ы) : Ищенко, Анатолий Александрович
Заглавие : Структура и динамика свободных молекул и конденсированного вещества : научное издание
Выходные данные : Москва: ФИЗМАТЛИТ, 2018
Колич.характеристики :655, [1] с.: ил., табл.
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 646-655
ISBN (в пер.), Цена 978-5-9221-1799-9: 841.00 р.
УДК : 544
Предметные рубрики: химия-- физическая химия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): химические реакции--динамика химических реакций--электронная дифракция--молекулярные структуры--электронно-колебательные взаимодействия--внутримолекулярная динамика--пентагалогениды--переходные структуры--электронная кристаллография--нанокристаллография--электронная микроскопия--структурная динамика--спектральные методы--дифракционные методы
Найти похожие

12.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.1(075)/Б 90
Автор(ы) : Бублик В. Т.
Заглавие : Сборник задач и упражнений по курсу "Методы исследования структуры" : учеб. пособие
Выходные данные : М.: Высшая школа, 1988
Колич.характеристики :192 с.: ил.; 20см
ISBN, Цена 5-06-001309-Х: 0.50 р.
ГРНТИ : 81.09.01.33
УДК : 620.18(075.8)
ББК : 30.3
Предметные рубрики: Испытания материалов-- Электронная микроскопия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материаловедение--испытание материалов--рентгеновские лучи--рентгеноструктурный анализ--электронная микроскопия--электронография
Аннотация: В сборнике содержатся задачи и упражнения по следующим разделам: микроскопические исследования в видимом свете; рентгенодифракционные методы исследования структуры полупроводниковых, диэлектрических и металлических материалов, электронно-оптические методы.
Найти похожие

13.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537/С 89
Автор(ы) : Суворов А. Л.
Заглавие : Микроскопия в науке и технике
Выходные данные : М.: Наука, 1981
Колич.характеристики :136 с.: ил.; 20см
Серия: Наука и технический прогресс
Цена : 0.45 р.
ГРНТИ : 29.05
УДК : 537.53
Предметные рубрики: Физика-- Электронные явления
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): физика--микроскопы--световая микроскопия--электронная микроскопия--микроскопический анализ--рентгеновская микроскопия--автоэлектронная микроскопия--автоионная микроскопия
Аннотация: Книга знакомит с основными вехами в развитии микроскопии,типами и принципами действия современных микроскопов.Рассмотрены тенденции развития микроскопии,ее перспективы.
Найти похожие

14.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 539/Ч-46
Автор(ы) : Черемской П. Г.
Заглавие : Методы исследования пористости твердых тел
Выходные данные : М.: Энергоатомиздат, 1985
Колич.характеристики :112 с.: ил.; 20см
Примечания : Библиогр.: с. (99 назв.)
Цена : 1.20 р.
ГРНТИ : 29.19
УДК : 539.217
Предметные рубрики: Физика-- Физика твердого тела
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): физика--твердое тело--пористость--световая микроскопия--электронная микроскопия--капиллярная дефектоскопия--ртутная порометрия--волюмометрия--пикнометрия--поры--методы излучения--поры твердого тела
Аннотация: На основе излагаемых общих представлений о порах как фазовых неоднородностях твердого тела рассмотрены принципы и возможности существующих методов излучения внутренних и открытых пор различной дисперсности и природы.
Найти похожие

15.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.385/Д 50
Заглавие : Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении
Выходные данные : М.: Металлургия, 1984
Колич.характеристики :504 с.: ил.; 21см
Цена : 6.20 р.
ГРНТИ : 47.29
УДК : 621.385.833:620.1
Предметные рубрики: Электроника-- Электронная микроскопия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электроника--дифракционная электронная микроскопия--рентгенография--нейронография--рентгеновская топография--автоионная микроскопия--электронная микроскопия--кластеры--фазовые преобразователи--электронограмма--мартенситные превращения
Аннотация: Изложены структурные методы исследования твердых тел:дифракционная электронная микроскопия,рентгенография,нейтронография,рентгеновская топография,дифракция медленных электронов,автоионная микроскопия.
Найти похожие

16.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 543/М 59
Заглавие : Микроанализ и растровая электронная микроскопия : Пер. с фр.
Выходные данные : М.: Металлургия, 1985
Колич.характеристики :408 с.: ил.; 22 см
Примечания : Библиогр.: с. 392-404. - Предм. указ.: с. 404-407
Цена : 5.10 р.
ГРНТИ : 31.19
УДК : 543:537.533
Предметные рубрики: Химия-- Аналитическая химия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): аналитическая химия--электронная микроскопия--эмиссия--рентгеновские излучения--спектрография--ядерный микрозонд--методы микроанализа
Аннотация: В книге изложены теория и практическое применение растровой электронной микроскопии и физических методов микроанализа: Оже- спектроскопии, масс-спектроскопии вторичных ионов, ядерного и лазерного микрозондов в физике твердого тела, металлургии и геологии. Рассмотрен метод количественного рентгеновского микроанализа, основанный на применении ЭВМ.
Найти похожие

17.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 666/Б 39
Автор(ы) : Безбородов М. А.
Заглавие : Самопроизвольная кристаллизация силикатных стекол
Выходные данные : Минск: Наука и техника, 1981
Колич.характеристики :248 с. ; 21 см
Цена : 1.30 р.
ГРНТИ : 61.35.31
УДК : 666.1
Предметные рубрики: Химическая промышленность-- Стекольная промышленность
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): химическая промышленность--кристаллизация--вязкость--силикатное стекло--тектитовое стекло--сферолитовая кристаллизация--ультрафиолетовая спектроскопия--электронная микроскопия--ядрообразование
Аннотация: Посвящена развитию и современному состоянию знаний о самопроизвольной кристаллизации силикатных стекол.
Найти похожие

18.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.1(075)/Б 28
Автор(ы) : Батаев В. А., Батаев А. А., Алхимов А. П.
Заглавие : Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : учеб. пособие . -2-е изд.
Выходные данные : М.: Флинта : Наука, 2007
Колич.характеристики :224 с.: ил.; 21 см
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Гриф: допущено УМО вузов РФ по образованию в области материаловедения, технологии материалов и покрытий в качестве учеб. пособия по дисциплине «Физические методы исследования материалов» для студ. вузов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров и магистров 150600 (551600) - "Материаловедение и технология новых материалов" и дипломированных специалистов по спец. 150601 (071000) -"Материаловедение и технология новых материалов" и 150501 (120800) - "Материаловедение в машиностроении"
ISBN, Цена 978-5-9765-0207-9: 154.00 р.
ISBN, Цена 978-5-02-034811-0: Б.ц.
ГРНТИ : 81.09.01.33
УДК : 620.1(075.8)
ББК : 30.3
Предметные рубрики: Материаловедение-- Структурный анализ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материаловедение--структурный анализ--кристаллическое строение металлов--электронная микроскопия--зондовая микроскопия--спектральный анализ--рентгеновский метод контроля
Найти похожие

19.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 669(083)/М 54
Автор(ы) : Клыпин Б. А., Меньшиков А. З., Рахштадт А. Г., Скаков Ю. А., Усиков М. П.
Заглавие : Металловедение и термическая обработка стали: в 3 т. : справочник/ под ред. М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. - 4-е изд., перераб. и доп. Т. 1: Методы испытаний и исследования : в 2 кн. Кн. 1
Выходные данные : М.: Металлургия, 1991
Колич.характеристики :304 с.: ил.; 22 см
ISBN, Цена 5-229-00796-8: 3.50 р.
ГРНТИ : 53.49.01.33
УДК : 669.14.017+621.78:669.14(083)
Предметные рубрики: Металлургия-- Стали
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): металлургия--стали--микроструктура сплавов--электронная микроскопия--рентгеноструктурный анализ--рентгеноспектральный микроанализ
Аннотация: Изложены методики современного металлографического анализа: микроскопического, электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, рентгеноспектроскопического, микрорентгеноспектрального, нейроноструктурного.
Найти похожие

20.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 669/Б 73
Автор(ы) : Богачев И. Н., Еголаев В. Ф.
Заглавие : Структура и свойства железомарганцевых сплавов : научное издание
Выходные данные : М.: Металлургия, 1973
Колич.характеристики :295 с.: ил.; 20см
Примечания : Библиогр.: с. 291-296 (154 назв.)
Цена : 1.68 р.
ГРНТИ : 53.31
УДК : 669.14
Предметные рубрики: Металлургия-- Сплавы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сплавы--железомарганцевые сплавы--металлография--электронная микроскопия--рентгенография--мартенситное превращение--аустенитные стали--хромомарганцевые стали--нержавеющие стали--кавитационностойкие стали--жаростойкие стали--жаропрочные стали
Аннотация: Рассмотрены особенности структурных превращений, свойства и практическое применение железомарганцевых сплавов. Значительное внимание уделено влиянию легирующих элементов, фазовым превращениям, пластической деформации и их взаимодействию. Рассмотрены особенности мартенситного превращения. Обсуждены особенности нержавеющих, кавитационностойких и износостойких сталей.
Найти похожие

 1-20    21-40   41-48 
 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)