| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>KL=случайно-детерминированные процессы<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.382/С 95
Автор(ы) : Сыноров В. Ф., Пивоварова Р. П.
Заглавие : Параметрическая надежность и физические модели отказов интегральных схем : научное издание
Выходные данные : Воронеж: Изд-во ВГУ, 1983
Колич.характеристики :152 с.: ил.; 20см
Цена : 1.20 р.
ГРНТИ : 47.33.31
УДК : 621.382.049.77.019
Предметные рубрики: Электроника-- Интегральные микросхемы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроэлектроника--случайно-детерминированные процессы--окисление резистивного слоя--поверхностное окисление--резистивные пленки--интегральные схемы--электромиграция--параметрическая надежность
Аннотация: Предлагается математический аппарат для оценки параметрической надежности высококачественных изделий микроэлектроники. Основой расчета являются физико-вероятностные модели деграционных процессов, описываемых монотонными случайно-детерминированными функциями. Разработаны конкретные физико-вероятностные модели отказов тонкопленочных элементов интегральных микросхем.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)