| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :8
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (9)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=сканирующая туннельная микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 582649
539.27/Е 53
Автор(ы) : Еловиков, Сергей Сергеевич
Заглавие : Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок : [учеб. пособие]
Выходные данные : Москва: Изд-во Моск. ун-та, 1992
Колич.характеристики :94 с.: ил.
Серия: Физика
Примечания : Библиогр.
ISBN, Цена 5-211-02904-6: 5.50 р.
УДК : 539.27(075.8)
Предметные рубрики: физика-- физика твердого тела
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): твердые тела--тонкие пленки--электронная спектроскопия--энергоанализ заряженных частиц--оже-электронная спектроскопия--рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия--сканирующая туннельная микроскопия
Найти похожие
2.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 920301
621.382-181+017.7:621.3/С 38
Автор(ы) : Синицин, Николай Иванович
Заглавие : Практикум по волновой электронике и микроэлектронике/ Н. И. Синицин, Г. В. Торгашов, И. Г. Торгашов. Ч. IV: Технология микроэлектроники
Выходные данные : Саратов: Издательство Саратовского университета, 2000
Колич.характеристики :42, [2] с
Примечания : На обл. авт. не указаны
ISBN, Цена 5-292-02562-3: 10.00 р.
УДК : 621.38.049.77(076.5)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроэлектроника--сканирующая туннельная микроскопия--пленочная технология
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 137461
621.315.592+621.385.833/Р 94
Автор(ы) : Рыков, Сергей Александрович
Заглавие : Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению "Техническая физика"
Выходные данные : Санкт-Петербург: Наука, 2001
Колич.характеристики :52 с
Серия: Новые разделы физики полупроводников
Примечания : Библиогр.
ISBN (в пер.), Цена 5-02-024956-4: 20.00 р.
УДК : 621.315.5 + 621.385.833
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы-- полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая туннельная микроскопия--атомарно-силовые микроскопы--полупроводниковые материалы--наноструктуры
Аннотация: На примере сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) и атомарно- силового микроскопа (АСМ) рассмотрены основные принципы сканирующей зондовой микроскопии.Изложены физические основы их действия,описаны современные конструкции СТМ и АСМ.Рассматриваются примеры их практического применения для исследования и диагностики полупроводниковых материалов и наноструктур.Для студентов, аспирантов,научных сотрудников.
Найти похожие
4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 593221
621.385.833681.4/М 64
Автор(ы) : Миронов В. Л.
Заглавие : Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2004
Колич.характеристики :143, [1] с.: цв.ил
Коллективы : Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород
Серия: Мир физики и техники
Примечания : Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.)
ISBN (в пер.), Цена 5-94836-034-2: 153.32 р.
УДК : 621.385.833(075.8) + 681.723.2(075.8)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы
техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия--микроскопы--сканирующая туннельная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--оптическая микроскопия
Аннотация: Пособие охватывает всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов.
Найти похожие
5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 102320
621.385.833681.4/М 64
Автор(ы) : Миронов В. Л.
Заглавие : Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2005
Колич.характеристики :143, [1] с.: ил.
Коллективы : Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород
Серия: Мир физики и техники
Примечания : Библиогр.: с. 140-143
ISBN (в пер.), Цена 5-94836-034-2: 167.00 р.
УДК : 621.385.833(075.8) + 681.723.2(075.8)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы
техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия--микроскопы--сканирующая туннельная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--оптическая микроскопия
Найти похожие
6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 429577
Автор(ы) : Kaupp, Gerd
Заглавие : Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces [Electronic resource] : научное издание
Выходные данные : Berlin; Heidelberg: Springer, 2006?
Колич.характеристики :1 эл. опт. диск (CD-ROM)
Серия: NanoScience and Technology .
    Springer eBook Collection
Вид и объем ресурса: Электрон. текстовые дан.
ISBN (в кор.), Цена 9783540284727: 630.00 р.
УДК : 621.385.833(0.034.4) + 681.723.2(0.034.4)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы
техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы--атомно-силовая микроскопия(асм)--сканирующая туннельная микроскопия--оптическая микроскопия--нанотехнологии--наноцарапины
Найти похожие
7.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 419578 рукописный текст
Автор(ы) : Lõhmus, Rünno
Заглавие : Application of Novel Hybrid Methods in SPM Studies of Nanostructural Materials : Dis. for the Degree of Doctor of Philosophy in physics (experimental physics)
Выходные данные : Tartu: Tartu Univ. Press, 2002
Колич.характеристики :93, [3] с
Серия: Dissertationes Physicae Univ. Tartuensis; 39
Примечания : Bibliogr. at the end of the chapters
ISSN: 1406-0647
ISBN, Цена 9985-56-695-5: [б. ц.]
УДК : 620.3(043.3) + 620.187(043.3)
Предметные рубрики: техника-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноструктурированные материалы--сканирующая зондовая микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--сканирующая туннельная микроскопия
Найти похожие
8.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 009163
Автор(ы) : Усанов, Дмитрий Александрович
Заглавие : Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области ее применения : научное издание
Выходные данные : Саратов: Издательство Саратовского университета, 2010
Колич.характеристики :98, [2] с
Разночтения заглавия :Загл., сост. каталогизатором: Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области её применения
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN, Цена 978-5-292-03937-2: 98.21 р.
УДК : 621.385.833 + 681.723.2
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы
техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): свч-микроскопы--ближнеполевые свч- микроскопы--сканирующая туннельная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--нанотехнологии--линии передачи--свч-резонаторы
Аннотация: В последние несколько десятилетий в практику вошли средства измерений, работающие в нанометровом масштабе: сканирующие туннельные, атомносиловые и СВЧ-ближнеполевые микроскопы. В настоящем издании рассмотрены принципы действия, основные характеристики, обсуждены достоинства и недостатки, приведены примеры применения различных типов ближнеполевых сканирующих СВЧ-микроскопов. Для ученых, преподавателей и студентов, занимающихся исследованиями в области нано- и биомедицинских технологий.
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)