| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :8
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (9)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=сканирующая туннельная микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8
1.

Еловиков С. С. Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок/С. С. Еловиков ; . - 1992
2.

Синицин, Николай Иванович Практикум по волновой электронике и микроэлектронике. Ч. IV:Технология микроэлектроники. - 2000
3.

Рыков С. А. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур/С. А. Рыков ; . - 2001
4.

Миронов В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии/В. Миронов. - 2004
5.

Миронов В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии/В. Л. Миронов. - 2005
6.

Kaupp G. Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces/G. Kaupp. - 2006?
7.

Lõhmus R. Application of Novel Hybrid Methods in SPM Studies of Nanostructural Materials/R. Lõhmus ; superv.: R. Kink, L. Pung. - 2002
8.

Усанов Д. А. Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области ее применения/Д. А. Усанов. - 2010
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)