| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
в найденном
В текущей базе данных найдено документов :28
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (11)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=рентгеноструктурный анализ<.>)
Общее количество найденных документов : 28
Показаны документы с 1 по 20
 1-20    21-28 
1.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 982605
548.3/К 82
Заглавие : Кристаллохимия. - (Итоги науки и техники). Т. 27: Химическая связь и тепловое движение атомов в кристаллах
Выходные данные : Москва, 1993
Колич.характеристики :272 с
Примечания : Библиогр.
Цена : 6.00 р.
УДК : 548.736+548.737+548:539.26
Предметные рубрики: химия-- кристаллография
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рентгеноструктурный анализ--кристаллы--химическая связь--неорганические соединения--органические соединения
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 383719
535.33-32+539.184/В 14
Автор(ы) : Вайнштейн Э. Е.
Заглавие : Рентгеновские спектры атомов в молекулах химических соединений и в сплавах : научное издание
Выходные данные : Москва; Ленинград: Изд-во АН СССР, 1950
Колич.характеристики :207 с.: ил.
ISBN (в пер.), Цена [Б. и.]: 30.00 р.
УДК : 535.33-34 + 539.184
Предметные рубрики: физика-- оптика-- атомная физика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рентгеноструктурный анализ--рентгеновские спектры--рентгеновская спектроскопия--атомы
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 773025
541.1577.3/Ф 50
Автор(ы) : Тиноко И., Зауэр К., Вэнг Дж., Паглиси Дж.
Заглавие : Физическая химия. Принципы и применение в биологических науках : учебное пособие
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2005
Колич.характеристики :743, [1] с.: рис., табл.
Серия: Мир химии
Примечания : Библиогр.: с. 742-743
ISBN, Цена 5-94836-036-9 (в пер.): 407.66 р.
ISBN, Цена 0-13-095943-X (англ.): Б.ц.
УДК : 544 + 577.3
Предметные рубрики: химия-- физическая химия
биология-- биофизика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): физическая химия--молекулярная биология--биофизическая химия--термодинамика--химическое равновесие--химическая кинетика--молекулярные структуры--спектроскопия--статистическая термодинамика--рентгеноструктурный анализ--кинетика биологических процессов
Найти похожие
4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 435538
54(075)Вуз/Ф 50
Автор(ы) : Баличева Т. Г., Белорукова Л. П., Звинчук Р. А., Кондратьев Ю. В.
Заглавие : Физические методы исследования неорганических веществ : учеб. пособие
Выходные данные : Москва: Академия, 2006
Колич.характеристики :442, [6] с.: рис., табл.
Серия: Высшее профессиональное образование. Естественные науки
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Допущено Учеб.-метод. об-нием по клас. унив. образованию в качестве учеб. пособия для студентов, обучающихся по специальности 020101 "Химия" направления подгот. 020100 "Химия"
ISBN (в пер.), Цена 5-7695-2261-5: 212.85 р.
УДК : [546:543](075.8)
Предметные рубрики: химия-- неорганическая химия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): неорганические вещества--физические методы--спектроскопия--магнетохимия--рентгеноструктурный анализ--масс-спектрометрия--термический анализ--калориметрия--тензиметрия--квантовохимические расчеты--термодинамика
Найти похожие
5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 783487
621.039.53539.26/К 71
Автор(ы) : Косенков, Владимир Михайлович
Заглавие : Рентгенография в реакторном материаловедении : научное издание . -2-е изд., перераб. и доп.
Выходные данные : Ульяновск: Ульян. гос. ун-т, 2006
Колич.характеристики :167, [1] с
Коллективы : Федер. агентство по образованию, Гос. образоват. учреждение высш. проф. образования "Ульяновский государственный университет"
Примечания : Библиогр.: с. 160-167 (85 назв.)
ISBN, Цена 5-88868-253-4: 90.00 р.
УДК : 621.039.53 + 539.26
Предметные рубрики: энергетика-- атомная энергетика
физика-- физика твердого тела
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): реакторные материалы--ядерные реакторы--рентгенография--рентгеноструктурный анализ--радиоактивные материалы--радиационные дефекты
Найти похожие
6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 185028
Автор(ы) : Фетисов, Геннадий Владимирович
Заглавие : Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ : учеб. пособие
Выходные данные : Москва: ФИЗМАТЛИТ, 2007
Колич.характеристики :671, [1] с.: рис.
Серия: Фундаментальная и прикладная физика
Примечания : Библиогр.: с. 636-663. - Предм. указ.: с. 664-671. - Допущено УМО по клас. унив. образованию, в качестве учеб. пособия для студентов ст. курсов, обучающихся по специальности 020101 (011000) - Химия
ISBN (в пер.), Цена 978-5-9221-0805-8: 495.00 р.
УДК : 539.26 + 548.73
Предметные рубрики: физика-- физика твердого тела
химия-- кристаллография
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рентгеноструктурный анализ--синхротронное излучение--электромагнитное излучение--рентгеновские лучи--дифракция--xafs спектроскопия--структурная химия
Найти похожие
7.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 967846
Автор(ы) : Молотков, Николай Яковлевич
Заглавие : Учебные эксперименты по волновой оптике. СВЧ демонстрации : учебное пособие
Выходные данные : Долгопрудный: Интеллект, 2011
Колич.характеристики :346, [6] с.: рис., граф.
Примечания : Библиогр.: с. 347 (8 назв.)
ISBN, Цена 978-5-91559-085-3: 495.00 р.
УДК : 535(075.8)
Предметные рубрики: физика-- оптика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): волновая оптика--электромагнитные волны--интерференция --дифракция --дисперсия--рентгеноструктурный анализ--кристаллооптика--свч-диапазон--демонстрационные опыты
Найти похожие
8.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 791139
Автор(ы) : Середин, Павел Владимирович
Заглавие : Субструктура и оптические свойства эпитаксильных гетероструктур на основе А3В5 : автореф. дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.10
Выходные данные : Воронеж: [б. и.], 2012
Колич.характеристики :32 с.: ил.
Коллективы : Воронеж. гос. ун-т, г. Воронеж
Примечания : Библиогр.: с. 29-32 (30 назв.)
ISBN, Цена [Б. и.]
УДК : 537.311.322(043.3)
Предметные рубрики: физика-- физика твердого тела
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): гетероструктуры--твердые растворы--эпитаксиальные гетероструктуры--полупроводники--оптические свойства--рентгеноструктурный анализ--многослойные структуры
Найти похожие
9.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 548.73(075.8)
Автор(ы) : Пущаровский, Дмитрий Юрьевич
Заглавие : Рентгенография минералов : учебник
Выходные данные : Москва: Геоинформмарк, 2000
Колич.характеристики :295, [1] с.: ил., табл.
Коллективы : Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова
Примечания : Библиогр.: с. 288 (17 назв.). - Допущено М-вом образования РФ в качестве учеб. для геол. специальностей вузов
ISBN (в пер.), Цена 5-900357-50-3: 270.00 р.
УДК : 548.73(075.8)
Предметные рубрики: химия-- кристаллография
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): минералы--кристаллы--рентгенография--рентгеновские лучи--рассеяние рентгеновских лучей--рентгеноструктурный анализ
Найти похожие
10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 544
Автор(ы) : Сидоров, Николай Васильевич, Палатников, Михаил Николаевич, Теплякова, Наталья Александровна, Калинников, Владимир Трофимович
Заглавие : Сегнетоэлектрические твердые растворы LiᵪNa₁₋ᵪNb₁₋ᵧO₃. Синтез, структура, свойства : научное издание
Выходные данные : Москва: Наука, 2015
Колич.характеристики :229, [3] с.: ил., табл.
Коллективы : Ин-т химии и технологии ред. элементов и минер. сырья им. И. В. Танаева Кол. науч. центра РАН
Разночтения заглавия :Загл., сост. каталогизатором: Сегнетоэлектрические твёрдые растворы LiᵪNa₁₋ᵪNb₁₋ᵧO₃. Синтез, структура, свойства
Примечания : Библиогр.: с. 207-220 (193 назв.). - На обл. и тит. л. указаны авт.: Сидоров Н. В. [и др.]
ISBN (в пер.), Цена 978-5-02-038506-1: 224.00 р.
УДК : 544
Предметные рубрики: химия-- физическая химия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): твердые растворы--сегнетоэлектрические твердые растворы--синтез--комбинационное рассеяние света--рентгеноструктурный анализ--фазовые переходы--ионная проводимость--структура
Найти похожие
11.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.18
Автор(ы) : Карпасюк, Владимир Корнильевич, Смирнов, Андрей Михайлович
Заглавие : Зондирующие методы исследований в материаловедении : учебное пособие
Выходные данные : Астрахань: Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014
Колич.характеристики :214, [2] с.: ил.
Коллективы : ФГБОУ ВПО "Астраханский государственный университет", Центр Функцион. Магнит. Материалов
Примечания : Библиогр.: с. 209-214 (91 назв.)
ISBN, Цена 978-5-91910-342-4: 293.00 р.
УДК : 620.18
Предметные рубрики: техника-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материаловедение--зондирование --структурный анализ--ферромагнитный резонанс--ядерный магнитный резонанс (ямр)--рентгеноструктурный анализ--нейтронография--электронография--электронная микроскопия--оже-электронная спектроскопия--рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия--масс-спектрометрия--сканирующая зондовая микроскопия
Аннотация: Содержит изложение физических основ, принципов аппаратурной реализации, метрологических характеристик и применений методов исследования, основанных на зондировании твердых тел электромагнитными волнами высоких и сверхвысоких частот, рентгеновскими лучами, гамма-квантами, потоками электронов, ионов и нейтронов. Рассмотрены явления взаимодействия излучений различного вида с веществом, приведены необходимые сведения из кристаллографии и оптики пучков частиц. Представлены также методы сканирующей зондовой микроскопии, в том числе туннельная, атомно-силовая и ближнепольная оптическая микроскопия. Прикладные вопросы рассмотрены, в основном, на примере исследования материалов для магнитной и спиновой электроники и некоторых наноструктурированных сред. К каждому разделу подобраны вопросы и упражнения.
Найти похожие
12.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 669(083)/М 54
Автор(ы) :
Заглавие : Металловедение и термическая обработка стали: в 3 т. : справочник/ под ред. М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. - 3-е изд., перераб. и доп. Т. 1: Методы испытаний и исследования
Выходные данные : М.: Металлургия, 1983
Колич.характеристики :352 с.: ил.; 26 см
Примечания : Библиогр. в конце глав
Цена : 2.50 р.
ГРНТИ : 53.49.01.33
УДК : 669.14:621.78(083)
Предметные рубрики: Металлургия-- Металловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): макро- и микроструктура--динамические испытания металлов--исследование поверхностей в металлах--металловедение--механические свойства металлов--определение сопротивления разрушению--определение упругости металлов--просвечивающая электронная микроскопия--радиоспектроскопия--растровая электронная микроскопия--рентгеноспектральный микроанализ--рентгеноструктурный анализ--специальные испытания--статические испытания металлов--стереология--термическая обработка стали--физические методы исследования--циклические испытания--ядерный гамма-резонанс
Аннотация: Третье издание (второе - в 1962 г.) переработано и дополнено материалами, отражающими современные достижения науки. В первом томе изложены методики современного металловедческого анализа: микроскопического, электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, микрорентгеноспектрального. Оже-спектрографии, мессбауэровского и других способов исследования строения металлов и сплавов. Приведены основные положения статистической обработки экспериментальных результатов.
Найти похожие
13.

Вид документа : Монографическая серия
Шифр издания : 53/К 45
Автор(ы) : Китайгородский А. И.
Заглавие : Фотоны и ядра . -3-е изд., стер.
Выходные данные : М.: Наука, 1984
Колич.характеристики :208 с. ; 20см
Серия: Физика для всех; Кн.4
Цена : 0.40 р.
ГРНТИ : 29.05 + 29.15
УДК : 53
ББК : 22.3
Предметные рубрики: Физика-- Физика элементарных частиц
Физика-- Ядерная физика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электромагнитное излучение--тепловое излучение--лазерное излучение--люминесценция--оптические приборы--призма--линза--лазерные инструменты--рентгеновские лучи--рентгеноструктурный анализ--рентгенография--электромагнитные волны--спектры--физика--фотоны--ядра--теория относительности--волновая механика--малые частицы--ядерная физика
Аннотация: В книге изложены основные сведения, специфичные для электромагнитных волн, проблема теплового излучения, учение о спектрах, приведены примеры наиболее распространённых лазеров, много внимания уделено ядерной физике.
Найти похожие
14.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.1(075)/Б 90
Автор(ы) : Бублик В. Т.
Заглавие : Сборник задач и упражнений по курсу "Методы исследования структуры" : учеб. пособие
Выходные данные : М.: Высшая школа, 1988
Колич.характеристики :192 с.: ил.; 20см
ISBN, Цена 5-06-001309-Х: 0.50 р.
ГРНТИ : 81.09.01.33
УДК : 620.18(075.8)
ББК : 30.3
Предметные рубрики: Испытания материалов-- Электронная микроскопия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материаловедение--испытание материалов--рентгеновские лучи--рентгеноструктурный анализ--электронная микроскопия--электронография
Аннотация: В сборнике содержатся задачи и упражнения по следующим разделам: микроскопические исследования в видимом свете; рентгенодифракционные методы исследования структуры полупроводниковых, диэлектрических и металлических материалов, электронно-оптические методы.
Найти похожие
15.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 541(076)/П 69
Автор(ы) : Каретников Г. С., Козырева Н. А., Кудряшов И. В., Старостенко Е. П.
Заглавие : Практикум по физической химии : Учеб. пособие
Выходные данные : М.: Высшая школа, 1986
Колич.характеристики :495 с.: ил.; 22 см
Цена : 1.40 р.
ГРНТИ : 31.15.01.33
УДК : 541.1(076)
ББК : 24.5
Предметные рубрики: Химия-- Физическая химия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): физическая химия--молекулярная спектроскопия--электронографический анализ--рентгеноструктурный анализ--термохимия--фазовые равновесия--растворы--химическое равновесие--электролиты--кинетика--адсорбция
Аннотация: В практикуме описаны лабораторные работы, охватывающие весь курс физической химии. Каждой работе предпослано теоретическое введение.
Найти похожие
16.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 669(083)/М 54
Автор(ы) : Клыпин Б. А., Меньшиков А. З., Рахштадт А. Г., Скаков Ю. А., Усиков М. П.
Заглавие : Металловедение и термическая обработка стали: в 3 т. : справочник/ под ред. М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. - 4-е изд., перераб. и доп. Т. 1: Методы испытаний и исследования : в 2 кн. Кн. 1
Выходные данные : М.: Металлургия, 1991
Колич.характеристики :304 с.: ил.; 22 см
ISBN, Цена 5-229-00796-8: 3.50 р.
ГРНТИ : 53.49.01.33
УДК : 669.14.017+621.78:669.14(083)
Предметные рубрики: Металлургия-- Стали
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): металлургия--стали--микроструктура сплавов--электронная микроскопия--рентгеноструктурный анализ--рентгеноспектральный микроанализ
Аннотация: Изложены методики современного металлографического анализа: микроскопического, электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, рентгеноспектроскопического, микрорентгеноспектрального, нейроноструктурного.
Найти похожие
17.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 669/П 75
Автор(ы) :
Заглавие : Приборы и методы физического металловедения: пер. с англ./ под ред. Ф. Вейнберга. Вып. 1
Выходные данные : М.: Мир, 1973
Колич.характеристики :427 с.: ил., табл.; 22 см
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Парал. тит. англ.
Цена : 1.97 р.
ГРНТИ : 53.49
УДК : 669.014
Предметные рубрики: Металлургия-- Металловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): металловедение--измерение температуры--выращивание кристаллов--металлографические исследования--количественная металлография--рентгеноструктурный анализ--физическое металловедение--приготовление сплавов
Аннотация: Монография посвящена различным методам измерения температуры, вопросам выращивания монокристаллов и приготовления сплавов, рассмотрению металлографических методов исследования, теории и практике количественной металлографии. Отдельная глава знакомит с приборами и методами рентгеноструктурного анализа.
Найти похожие
18.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.2(075)/С 42
Автор(ы) : Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И., Филатов А. М., Ульяненков А. Г.
Заглавие : Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие
Выходные данные : М.: Техносфера, 2009
Колич.характеристики :208 с.: ил.; 22 см
Серия: Мир физики и техники
Примечания : Гриф: допущено умо по образованию в области металлургии в качестве учеб. пособия для студ. вузов, обуч. по напр. "Металлургия" и "Физическое материаловедение"
ISBN, Цена 978-5-94836-200-7: 407.00 р.
ГРНТИ : 81.09.01.33 + 47.29.01.33
УДК : 620.22:621.385.8(075.8)
ББК : 30.3
Предметные рубрики: Материаловедение-- Структурный анализ
Электроника-- Электронная микроскопия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рентгеноструктурный анализ--рентгеноспектральный микроанализ--сканирующая микроскопия--гальваническое цинкование--цинковое покрытие--трещины--сварные соединения--цинкование--коррозия--усталостное разрушение--фреттинг--фрактография
Аннотация: Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом.
Найти похожие
19.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 57/Н 80
Автор(ы) : Нолтинг Б.
Заглавие : Новейшие методы исследования биосистем : монография
Выходные данные : М.: Техносфера, 2005
Колич.характеристики :256 с.: ил.; 20 см
Серия: Мир биологии и медицины
ISBN, Цена 94836-044-X: 109.00 р.
ГРНТИ : 34.35 + 76.03
УДК : 574:61
ББК : 20.1 + 52
Предметные рубрики: Экология-- Исследования биосистем
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): молекулярная динамика--жидкостная хроматография--масс-спектрометрия--рентгеноструктурный анализ--инфракрасная спектроскопия--электронная микроскопия--нанотехнологии--протеомика--структура белков--зондовая микроскопия
Аннотация: Охватывает широкий круг методов, таких как молекулярная динамика, жидкостная хроматография, масс-спектрометрия, рентгеноструктурный анализ, инфракрасная спектрометрия, просвечивающая и растровая электронная микроскопия, биофизические нанотехнологии, протеомика.
Найти похожие
20.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 666.94/Ф 50
Автор(ы) : Коновалов П. Ф., Штейерт Н. П., Иванов-Городов А. Н., Волконский Б. В.
Заглавие : Физико-механические и физико-химические исследования цемента : методы и аппаратура
Выходные данные : М.: Госстройиздат, 1960
Колич.характеристики :320 с.: рис.; 22 см
Цена : 1.30 р.
УДК : 666.94
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): физико-механические исследования цемента--стандартные испытания цемента--механические характеристики цементов--прочностные показатели цемента--строение силикатов--рентгеноструктурный анализ
Найти похожие
 1-20    21-28 
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)