| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :5
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (3)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=рентгеновская микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 771524 рукописный текст
535.37/К 75
Автор(ы) : Кочубей, Вячеслав Иванович
Заглавие : Процессы образования и свойства центров люминесценции в щелочно-галоидных кристаллах с примесями элементов IIIA и VIIIB групп : дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук: 01.04.05
Выходные данные : Саратов, 2002
Колич.характеристики :236 л. с. + 1 автореф.
Примечания : Библиогр.
ISBN (в пер.), Цена [Б. и.]: [б. ц.]
УДК : 535.37(043.3)
Предметные рубрики: физика-- оптика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): люминесценция--щелочногалоидные кристаллы--люминофоры--дефекты в кристаллах--рентгеновская микроскопия--спектроскопия--ионизирующие излучения
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 558674
535.37/К 75
Автор(ы) : Кочубей, Вячеслав Иванович
Заглавие : Формирование и свойства центров люминесценции в щелочно-галоидных кристаллах : научное издание
Выходные данные : Москва: ФИЗМАТЛИТ, 2006
Колич.характеристики :188, [4] с.: рис., табл.
Примечания : Библиогр.: с. 172-188 (258 назв.)
ISBN (в пер.), Цена 5-9221-0702-X: 100.00 р.
УДК : 535.37
Предметные рубрики: физика-- оптика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): люминесценция--щелочногалоидные кристаллы--люминофоры--дефекты в кристаллах--рентгеновская микроскопия--спектроскопия
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 352571
Автор(ы) : Кларк, Эшли Р., Эберхардт, Колин Н.
Заглавие : Микроскопические методы исследования материалов : научное издание
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2007
Колич.характеристики :371, [5] с
Коллективы : Ин-т синтет. полимер. материалов им. Е. Н. Ениколопова РАН
Серия: Мир материалов и технологий
Примечания : Библиогр. в конце разд.
ISBN, Цена 978-5-94836-121-5 (в пер.): 175.00 р.
ISBN, Цена 1-85573-587-3 (англ.): Б.ц.
УДК : 620.22 + 681.723
Предметные рубрики: техника-- материаловедение-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материаловедение--микроскопы--микроскопия--микроскопические методы--конструкционные материалы--фотоника--цифровые изображения--микроскопия отраженного света--конфокальная микроскопия--рамановская микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--рентгеновская микроскопия--томография--сканирующая акустическая микроскопия
Аннотация: В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические - например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов.
Найти похожие
4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537/С 89
Автор(ы) : Суворов А. Л.
Заглавие : Микроскопия в науке и технике
Выходные данные : М.: Наука, 1981
Колич.характеристики :136 с.: ил.; 20см
Серия: Наука и технический прогресс
Цена : 0.45 р.
ГРНТИ : 29.05
УДК : 537.53
Предметные рубрики: Физика-- Электронные явления
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): физика--микроскопы--световая микроскопия--электронная микроскопия--микроскопический анализ--рентгеновская микроскопия--автоэлектронная микроскопия--автоионная микроскопия
Аннотация: Книга знакомит с основными вехами в развитии микроскопии,типами и принципами действия современных микроскопов.Рассмотрены тенденции развития микроскопии,ее перспективы.
Найти похожие
5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.382/К 65
Автор(ы) : Концевой Ю. А., Кудин В. Д.
Заглавие : Методы контроля технологии производства полупроводниковых приборов : научное издание
Выходные данные : М.: Энергия, 1973
Колич.характеристики :144 с.: ил.; 20 см
Серия: Б-ка радиотехнолога; вып. 2
Примечания : Библиогр.: с. 132-140 (134 назв.)
Цена : 0.40 р.
ГРНТИ : 47.33
УДК : 621.382.002
Предметные рубрики: Электроника-- Полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): диэлектрики--полупроводники--микроскопия--методы контроля приборов--рентгеновская микроскопия--технологические операции
Аннотация: В книге описываются электрические, оптические, рентгеновские и электронномикроскопические методы контроля технологии изготовления полупроводниковых приборов. Рассматриваются принципы организации технологического контроля при разработках и в производстве приборов.
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)