| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=резистивные пленки<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.316/С 87
Автор(ы) : Гурский Л. И., Зеленин В. А., Жебин А. П., Вахрин Г. Л.
Заглавие : Структура, топология и свойства пленочных резисторов
Выходные данные : Минск: Наука и техника, 1987
Колич.характеристики :264 с.: ил.; 21см
Примечания : Библиогр.223 назв.
Цена : 2.60 р.
ГРНТИ : 45.31
УДК : 621.316.8
Предметные рубрики: Электротехника-- Резисторы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электротехника--резисторы--пленочные резисторы--структура резисторов--топология резисторов--свойства резисторов--резистивные элементы--резистивные пленки
Аннотация: Рассматривается комплексный подход к проектированию и изготовлению резистивных элементов, включающий оптимизацию состава используемых материалов, конструктивно-технологических факторов, структурных характеристик и геометрии пленок для достижения требуемой точности и стабильности электрических параметров резисторов.
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.382/С 95
Автор(ы) : Сыноров В. Ф., Пивоварова Р. П.
Заглавие : Параметрическая надежность и физические модели отказов интегральных схем : научное издание
Выходные данные : Воронеж: Изд-во ВГУ, 1983
Колич.характеристики :152 с.: ил.; 20см
Цена : 1.20 р.
ГРНТИ : 47.33.31
УДК : 621.382.049.77.019
Предметные рубрики: Электроника-- Интегральные микросхемы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроэлектроника--случайно-детерминированные процессы--окисление резистивного слоя--поверхностное окисление--резистивные пленки--интегральные схемы--электромиграция--параметрическая надежность
Аннотация: Предлагается математический аппарат для оценки параметрической надежности высококачественных изделий микроэлектроники. Основой расчета являются физико-вероятностные модели деграционных процессов, описываемых монотонными случайно-детерминированными функциями. Разработаны конкретные физико-вероятностные модели отказов тонкопленочных элементов интегральных микросхем.
Найти похожие

3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.382/Б 94
Автор(ы) : Бушминский И. П., Морозов Г. В.
Заглавие : Конструирование и технология пленочных СВЧ микросхем : научное издание
Выходные данные : М.: Советское радио, 1978
Колич.характеристики :144 с.: табл., рис.; 20 см
Серия: Б-ка радиоконструктора
Примечания : Библиогр.: с. 137-138 (27 назв.)
Цена : 0.40 р.
ГРНТИ : 47.14.07
УДК : 621.382-18
Предметные рубрики: Электроника-- Микроэлектроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): интегральные схемы свч--конструктивно-технологические погрешности--проводящие пленки--резистивные пленки--диэлектрические пленки
Аннотация: Рассмотрены вопросы конструирования и технологии изготовления пленочных элементов гибридных интегральных схем СВЧ (ГИС СВЧ).
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)